精密跟踪系统非线性建模控制与验证系统研发
摘要 | 第5-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
符号对照表 | 第14-15页 |
缩略语对照表 | 第15-19页 |
第一章 绪论 | 第19-27页 |
1.1 研究背景 | 第19-20页 |
1.2 快速反射镜研究现状 | 第20-23页 |
1.2.1 国外研究现状 | 第20-21页 |
1.2.2 国内研究现状 | 第21-23页 |
1.3 研究内容与研究意义 | 第23-24页 |
1.4 本文研究对象概述 | 第24-27页 |
第二章 多途径建模与模型校正实验设计 | 第27-51页 |
2.1 理论建模 | 第27-33页 |
2.1.1 放大器理论模型 | 第27-28页 |
2.1.2 电涡流传感器理论模型 | 第28页 |
2.1.3 音圈电机理论模型 | 第28-32页 |
2.1.4 被控对象的理论非线性模型 | 第32-33页 |
2.2 实验设计与模型校正 | 第33-45页 |
2.2.1 实验目的 | 第33页 |
2.2.2 放大器参数的测定 | 第33-35页 |
2.2.3 被控对象线性模型的校正 | 第35-37页 |
2.2.4 音圈电机非线性参数的测定 | 第37-40页 |
2.2.5 传感器输出端的测量噪声 | 第40-43页 |
2.2.6 被控对象线性度的测定 | 第43-45页 |
2.3 由典型环节拟合的传递函数模型 | 第45-50页 |
2.3.1 拟合建模的整体思路 | 第45页 |
2.3.2 建模过程 | 第45-50页 |
2.4 本章小结 | 第50-51页 |
第三章 控制器的设计 | 第51-69页 |
3.1 期望性能指标与单位换算 | 第51-52页 |
3.1.1 期望性能指标 | 第51页 |
3.1.2 电压与位移量的换算 | 第51-52页 |
3.1.3 死区、噪声、线性度对位移精度的影响 | 第52页 |
3.2 控制系统仿真设计 | 第52-67页 |
3.2.1 超前滞后校正 | 第52-57页 |
3.2.2 超前双滞后校正 | 第57-59页 |
3.2.3 陷波控制器 | 第59-62页 |
3.2.4 陷波超前双滞后 | 第62-64页 |
3.2.5 带积分的陷波超前控制 | 第64-67页 |
3.3 不同控制器的性能对比 | 第67-68页 |
3.4 本章小结 | 第68-69页 |
第四章 系统极限性能分析 | 第69-93页 |
4.1 阶跃响应性能分析 | 第69-78页 |
4.1.1 分析思路 | 第69页 |
4.1.2 分析过程 | 第69-75页 |
4.1.3 分析结论 | 第75页 |
4.1.4 稳态精度极限分析 | 第75-78页 |
4.2 跟踪性能分析 | 第78-84页 |
4.2.1 分析思路 | 第78页 |
4.2.2 分析过程 | 第78-84页 |
4.2.3 分析结论 | 第84页 |
4.3 双轴联合控制仿真 | 第84-91页 |
4.3.1 误差计算原理 | 第84-85页 |
4.3.2 不同控制策略下的误差分析 | 第85-91页 |
4.4 系统改进建议 | 第91-92页 |
4.5 本章小结 | 第92-93页 |
第五章 伺服验证系统的研发 | 第93-117页 |
5.1 伺服验证系统概述 | 第93-94页 |
5.2 验证系统的可行性分析 | 第94页 |
5.3 伺服验证系统的硬件设计 | 第94-105页 |
5.3.1 硬件选型概述 | 第95-96页 |
5.3.2 驱动器的设计 | 第96-102页 |
5.3.3 电流采样调理电路的设计 | 第102-105页 |
5.4 伺服验证系统的软件设计 | 第105-114页 |
5.4.1 PWM频率和分辨率的选取 | 第106-107页 |
5.4.2 编码器正交脉冲信号的处理 | 第107-111页 |
5.4.3 PID算法的C语言实现 | 第111-114页 |
5.5 伺服系统功能的实现 | 第114-116页 |
5.6 本章小结 | 第116-117页 |
第六章 总结与展望 | 第117-119页 |
6.1 总结 | 第117页 |
6.2 展望 | 第117-119页 |
参考文献 | 第119-123页 |
致谢 | 第123-125页 |
作者简介 | 第125-126页 |