红外图像在架空线路故障检测中的应用研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 1 绪论 | 第14-18页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第14-15页 |
| 1.2 红外检测在架空线路线路中的研究 | 第15-17页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第15-16页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第16-17页 |
| 1.3 本论文的主要研究内容和创新点 | 第17-18页 |
| 2 红外热像技术原理分析 | 第18-26页 |
| 2.1 红外辐射的三大基本定律 | 第18-20页 |
| 2.1.1 黑体辐射定律 | 第18-19页 |
| 2.1.2 维恩位移定律 | 第19页 |
| 2.1.3 斯蒂芬-波尔兹曼定律 | 第19-20页 |
| 2.1.4 朗伯余弦定律 | 第20页 |
| 2.2 红外图像仪的工作原理 | 第20-22页 |
| 2.3 实际物体的红外辐射规律 | 第22-24页 |
| 2.3.1 实际物体的发射率 | 第22-23页 |
| 2.3.2 物体对辐射的吸收、透射和反射 | 第23-24页 |
| 2.4 本章小结 | 第24-26页 |
| 3 常见的架空线路的故障类型分析 | 第26-56页 |
| 3.1 电流型致热设备的缺陷判断方法研究 | 第27-35页 |
| 3.1.1 电流致热型设备的发热机理 | 第27-28页 |
| 3.1.2 电流致热型设备温度与时间的函数关系 | 第28-32页 |
| 3.1.3 电流致热型设备的温升和电流的函数关系 | 第32-35页 |
| 3.2 电压型致热设备的缺陷判断 | 第35-40页 |
| 3.2.1 电压致热型设备的发热机理 | 第35-36页 |
| 3.2.2 电压致热型设备温升关系和模型 | 第36-40页 |
| 3.3 高压瓷质绝缘子及其相关特性 | 第40-53页 |
| 3.3.1 劣化绝缘子的发热原理分析 | 第41-47页 |
| 3.3.2 绝缘子污闪机理与数学模型 | 第47-49页 |
| 3.3.3 直流污闪分析 | 第49-51页 |
| 3.3.4 交流污闪分析研究 | 第51-52页 |
| 3.3.5 电弧形成和发展的机理分析 | 第52-53页 |
| 3.3.6 泄漏电流与污闪的关系 | 第53页 |
| 3.4 本章小结 | 第53-56页 |
| 4 架空线路故障机理和特征分析 | 第56-64页 |
| 4.1 雷击故障与特征分析 | 第56-58页 |
| 4.1.1 雷击线路闪络 | 第56-57页 |
| 4.1.2 雷击故障和数值特性分析 | 第57-58页 |
| 4.2 绝缘子污闪故障机理与特征 | 第58-62页 |
| 4.2.1 绝缘子积污闪络过程 | 第58页 |
| 4.2.2 故障气象因素和数值特性分析 | 第58-62页 |
| 4.3 泄漏电流法及脉冲电流法检测绝缘子污秽 | 第62-63页 |
| 4.4 本章小结 | 第63-64页 |
| 5 基于红外图像的故障检测方法 | 第64-90页 |
| 5.1 红外图像的采集及处理的基本流程 | 第65-66页 |
| 5.1.1 红外图像的采集 | 第65页 |
| 5.1.2 红外图像的基本处理流程 | 第65-66页 |
| 5.2 红外图像处理的具体步骤和部分算法的比较 | 第66-74页 |
| 5.2.1 灰度化处理 | 第66-68页 |
| 5.2.2 去噪声 | 第68-73页 |
| 5.2.3 二值化和去背景噪声 | 第73-74页 |
| 5.2.4 检测像素最大值并判断图像的故障信息 | 第74页 |
| 5.3 试验及结果分析 | 第74-87页 |
| 5.3.1 在经典图像中滤波效果 | 第74-78页 |
| 5.3.2 在电力设备图像中的滤波效果 | 第78-87页 |
| 5.4 本章小结 | 第87-90页 |
| 6 结论与展望 | 第90-92页 |
| 6.1 结论 | 第90-91页 |
| 6.2 展望 | 第91-92页 |
| 参考文献 | 第92-98页 |
| 致谢 | 第98-100页 |
| 作者简介及读研期间主要科研成果 | 第100-101页 |
