基于微焦点X射线机衍射增强成像装置的物理设计及评价
中文摘要 | 第3-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第一章 绪论 | 第9-16页 |
1.1 传统X射线成像的发展及研究现状 | 第9-10页 |
1.2 相位衬度成像方法简介 | 第10-14页 |
1.2.1 干涉法成像 | 第11页 |
1.2.2 类同轴成像(自由传播法) | 第11-12页 |
1.2.3 衍射增强成像 | 第12-13页 |
1.2.4 光栅剪切成像 | 第13页 |
1.2.5 编码孔成像 | 第13-14页 |
1.3 衍射增强成像技术的发展 | 第14-15页 |
1.4 论文的研究内容与结构 | 第15-16页 |
第二章 衍射增强成像的物理原理 | 第16-23页 |
2.1 反射率曲线 | 第16-18页 |
2.2 相位信息提取方法 | 第18-19页 |
2.3 旋转不变性原理 | 第19-20页 |
2.4 旋转变化的相位CT | 第20-23页 |
第三章 系统物理设计 | 第23-28页 |
3.1 整体物理设计 | 第23-24页 |
3.2 非对称设计 | 第24-25页 |
3.3 双线分离设计 | 第25-26页 |
3.4 晶体受热形变计算 | 第26-28页 |
第四章 设备选型 | 第28-33页 |
4.1 X射线源 | 第28-29页 |
4.2 衍射晶体 | 第29-30页 |
4.3 探测器 | 第30页 |
4.4 运动控制系统 | 第30-32页 |
4.5 小结 | 第32-33页 |
第五章 空间分辨率评价模型 | 第33-40页 |
5.1 理论模型 | 第33页 |
5.2 摇摆曲线几何 | 第33-34页 |
5.3 荧光弥散效应 | 第34-35页 |
5.4 像元尺寸 | 第35页 |
5.5 调制传递函数 | 第35-36页 |
5.6 分析与讨论 | 第36-39页 |
5.7 小结 | 第39-40页 |
第六章 非对称衍射伪影评价 | 第40-44页 |
6.1 几何放大 | 第40页 |
6.2 色散伪影 | 第40-41页 |
6.3 几何半影 | 第41页 |
6.4 分析与讨论 | 第41-43页 |
6.5 小结 | 第43-44页 |
第七章 总结与展望 | 第44-46页 |
7.1 总结 | 第44页 |
7.2 展望 | 第44-46页 |
参考文献 | 第46-49页 |
在学期间研究成果 | 第49-50页 |
致谢 | 第50-51页 |
附录一 | 第51-52页 |
附录二 | 第52页 |