| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-12页 |
| 1.3 论文的研究内容和结构安排 | 第12-14页 |
| 1.3.1 研究内容 | 第12页 |
| 1.3.2 结构安排 | 第12-14页 |
| 第二章 密码芯片的电磁分析攻击技术基础 | 第14-25页 |
| 2.1 旁道攻击理论模型 | 第14-15页 |
| 2.2 电磁信息泄漏机理 | 第15-17页 |
| 2.3 电磁信息泄漏模型 | 第17-18页 |
| 2.3.1 汉明距离模型 | 第17-18页 |
| 2.3.2 汉明重量模型 | 第18页 |
| 2.4 电磁分析攻击的理论基础 | 第18-23页 |
| 2.4.1 攻击的实施条件 | 第18-19页 |
| 2.4.2 攻击的基本原理 | 第19-23页 |
| 2.5 S 盒在电磁分析攻击中的作用 | 第23-24页 |
| 2.6 小结 | 第24-25页 |
| 第三章 密码芯片的电磁信息采集平台设计 | 第25-39页 |
| 3.1 电磁信息采集平台构建 | 第25-30页 |
| 3.1.1 总体结构 | 第25-26页 |
| 3.1.2 电磁辐射信号测量 | 第26-29页 |
| 3.1.3 波形数据获取 | 第29页 |
| 3.1.4 工作流程 | 第29-30页 |
| 3.2 电磁信息采集的噪声影响 | 第30-31页 |
| 3.3 电磁信息采集的有效性验证 | 第31-37页 |
| 3.3.1 利用 DES 的电磁辐射特征验证 | 第31-35页 |
| 3.3.2 利用 AES 的电磁辐射特征验证 | 第35-37页 |
| 3.4 小结 | 第37-39页 |
| 第四章 分组密码芯片的 DEMA 攻击技术研究 | 第39-55页 |
| 4.1 DEMA 的攻击方法 | 第39-41页 |
| 4.2 基于汉明重量模型的 DEMA 尖峰模拟分析 | 第41-47页 |
| 4.2.1 DEMA 尖峰模拟分析方法 | 第41-44页 |
| 4.2.2 DES 的 DEMA 尖峰模拟分析 | 第44-46页 |
| 4.2.3 AES 的 DEMA 尖峰模拟分析 | 第46-47页 |
| 4.3 DEMA 尖峰模拟分析方法验证 | 第47-54页 |
| 4.3.1 DEMA 尖峰模拟分析验证技术 | 第48-49页 |
| 4.3.2 DES 的 DEMA 尖峰模拟分析验证 | 第49-52页 |
| 4.3.3 AES 的 DEMA 尖峰模拟分析验证 | 第52-54页 |
| 4.4 小结 | 第54-55页 |
| 第五章 分组密码芯片的 CEMA 攻击技术研究 | 第55-65页 |
| 5.1 CEMA 的攻击方法 | 第55-57页 |
| 5.2 基于汉明重量模型的 CEMA 尖峰模拟分析 | 第57-60页 |
| 5.2.1 CEMA 尖峰模拟分析方法 | 第57-59页 |
| 5.2.2 DES 的 CEMA 尖峰模拟分析 | 第59-60页 |
| 5.2.3 AES 的 CEMA 尖峰模拟分析 | 第60页 |
| 5.3 CEMA 尖峰模拟分析方法验证 | 第60-63页 |
| 5.3.1 CEMA 尖峰模拟分析验证技术 | 第61-62页 |
| 5.3.2 DES 的 CEMA 尖峰模拟分析验证 | 第62-63页 |
| 5.3.3 AES 的 CEMA 尖峰模拟分析验证 | 第63页 |
| 5.4 小结 | 第63-65页 |
| 第六章 总结与展望 | 第65-67页 |
| 6.1 总结 | 第65-66页 |
| 6.2 展望 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-71页 |
| 作者简历 攻读硕士学位期间完成的主要工作 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72页 |
