| 摘要 | 第8-10页 |
| ABSTRACT | 第10-12页 |
| 第1章 绪论 | 第13-35页 |
| 1.1 气体探测器的历史沿革 | 第13-15页 |
| 1.2 微结构气体探测器 | 第15-24页 |
| 1.2.1 微结构气体探测器原理 | 第16-21页 |
| 1.2.2 微结构气体探测器主要性能 | 第21-22页 |
| 1.2.3 微结构气体探测器的应用 | 第22-24页 |
| 1.3 微结构气体探测器读出电子学现状 | 第24-27页 |
| 1.4 本论文研究内容及结构安排 | 第27-28页 |
| 参考文献 | 第28-35页 |
| 第2章 气体探测器读出电子学系统调研 | 第35-59页 |
| 2.1 北京谱仪主漂移室电子学系统 | 第35-37页 |
| 2.2 美国SBS谱仪读出电子学系统 | 第37-39页 |
| 2.3 CERN可扩展读出电子学系统 | 第39-46页 |
| 2.3.1 可扩展读出电子学系统架构 | 第40-41页 |
| 2.3.2 可扩展读出电子学系统部件 | 第41-43页 |
| 2.3.3 可扩展读出电子系统的应用 | 第43-44页 |
| 2.3.4 可扩展读出电子系统衍生的通用读出电子学系统 | 第44-46页 |
| 2.4 工业化的可扩展读出电子学系统 | 第46-52页 |
| 2.4.1 ATCA简介 | 第46-49页 |
| 2.4.2 工业化可扩展读出电子学系统架构 | 第49-51页 |
| 2.4.3 工业化可扩展读出电子学系统部件 | 第51-52页 |
| 2.5 本章小结 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-59页 |
| 第3章 可扩展读出电子学原型系统 | 第59-97页 |
| 3.1 可扩展读出电子学系统整体架构 | 第59-69页 |
| 3.1.1 系统各模块设计方案 | 第60-64页 |
| 3.1.2 系统电源方案 | 第64-65页 |
| 3.1.3 通用连接器 | 第65-69页 |
| 3.2 SRS原型系统的实现 | 第69-92页 |
| 3.2.1 机箱设计 | 第71-72页 |
| 3.2.2 前端ASIC卡 | 第72-80页 |
| 3.2.3 适配卡Adapter | 第80-86页 |
| 3.2.4 FEC卡 | 第86-92页 |
| 3.3 本章小结 | 第92-93页 |
| 参考文献 | 第93-97页 |
| 第4章 可扩展读出电子学原型系统测试 | 第97-113页 |
| 4.1 测试参数和目的 | 第97页 |
| 4.2 兼容性能测试 | 第97-102页 |
| 4.2.1 VA140-SRS电子学测试 | 第98-100页 |
| 4.2.2 AGET-SRS电子学测试 | 第100-102页 |
| 4.3 可扩展性能测试 | 第102-103页 |
| 4.3.1 数据采集单元传输速率测试 | 第102-103页 |
| 4.3.2 功耗测试 | 第103页 |
| 4.4 电子学系统和探测器联调测试 | 第103-109页 |
| 4.4.1 二维读出Micromegas探测器 | 第103-104页 |
| 4.4.2 联调测试实验装置 | 第104-105页 |
| 4.4.3 噪声测试 | 第105-106页 |
| 4.4.4 狭缝成像测试 | 第106-109页 |
| 4.5 本章小结 | 第109-111页 |
| 参考文献 | 第111-113页 |
| 第5章 总结与展望 | 第113-115页 |
| 5.1 总结与展望 | 第113-114页 |
| 5.2 论文创新点 | 第114-115页 |
| 附录1 VA140-ASIC卡和Adapter卡实物图 | 第115-116页 |
| 附录2 AGET-ASIC卡和Adapter卡实物图 | 第116-117页 |
| 附录3 APV25-ASIC卡和Adapter卡实物图 | 第117-118页 |
| 附录4 FEC卡实物图 | 第118-119页 |
| 致谢 | 第119-121页 |
| 在读期间发表的学术论文 | 第121页 |
