形貌与变形非接触测量的采样云纹法
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 绪论 | 第8-17页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第8-10页 |
| 1.2 云纹法的发展及应用 | 第10-13页 |
| 1.3 光栅制备方法 | 第13页 |
| 1.4 显微镜分类及成像原理 | 第13-15页 |
| 1.5 本文主要内容 | 第15-17页 |
| 2 采样云纹法 | 第17-28页 |
| 2.1 一维采样云纹法 | 第17-20页 |
| 2.1.1 基本原理 | 第17-18页 |
| 2.1.2 误差补偿 | 第18-19页 |
| 2.1.3 位移测量 | 第19-20页 |
| 2.2 二维采样云纹法 | 第20-24页 |
| 2.2.1 基本原理 | 第20-22页 |
| 2.2.2 计算机仿真及误差分析 | 第22-24页 |
| 2.3 实验验证 | 第24-27页 |
| 2.3.1 试样与装置 | 第24-25页 |
| 2.3.2 测试过程 | 第25-26页 |
| 2.3.3 精度分析 | 第26-27页 |
| 2.4 小结 | 第27-28页 |
| 3 物体形貌的采样云纹法测量 | 第28-37页 |
| 3.1 基本原理 | 第28-30页 |
| 3.1.1 不透明物体形貌测量 | 第28-29页 |
| 3.1.2 透明物体形貌测量 | 第29-30页 |
| 3.2 仿真验证与误差分析 | 第30-32页 |
| 3.3 实验验证 | 第32-36页 |
| 3.3.1 不透明物体 | 第32-33页 |
| 3.3.2 透明物体 | 第33-36页 |
| 3.4 小结 | 第36-37页 |
| 4 物体变形的采样云纹法测量 | 第37-55页 |
| 4.1 聚合物的固化变形分析 | 第37-42页 |
| 4.1.1 试样与装置 | 第37-38页 |
| 4.1.2 测试过程 | 第38-39页 |
| 4.1.3 结果与讨论 | 第39-42页 |
| 4.2 碳纤维/树脂界面的微变形分析 | 第42-46页 |
| 4.2.1 试样与装置 | 第42-43页 |
| 4.2.2 分析过程 | 第43-44页 |
| 4.2.3 结果与讨论 | 第44-46页 |
| 4.3 单晶Si的断裂变形分析 | 第46-49页 |
| 4.3.1 试样与装置 | 第46-47页 |
| 4.3.2 分析过程 | 第47-48页 |
| 4.3.3 结果与讨论 | 第48-49页 |
| 4.4 单晶Au的位错变形分析 | 第49-53页 |
| 4.4.1 试样与装置 | 第50-51页 |
| 4.4.2 结果与讨论 | 第51-53页 |
| 4.5 小结 | 第53-55页 |
| 结论 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-59页 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
