沿面闪络触发型伪火花开关放电导通模拟与实验研究
摘要 | 第9-11页 |
ABSTRACT | 第11-12页 |
第一章 绪论 | 第13-23页 |
1.1 选题依据及课题研究的意义 | 第13-15页 |
1.2 伪火花开关的国内外研究现状 | 第15-21页 |
1.2.1 伪火花开关的发展与应用现状 | 第15-18页 |
1.2.2 伪火花开关的种类与结构 | 第18-21页 |
1.2.3 小结 | 第21页 |
1.3 课题的研究内容及结构安排 | 第21-23页 |
第二章 伪火花开关导通放电的工作原理 | 第23-33页 |
2.1 气体放电的基本原理 | 第23-27页 |
2.1.1 汤森理论 | 第24-26页 |
2.1.2 流注理论 | 第26-27页 |
2.2 辉光放电与空心阴极效应 | 第27-29页 |
2.2.1 辉光放电 | 第27-28页 |
2.2.2 空心阴极效应 | 第28-29页 |
2.3 伪火花开关的基本结构与工作过程 | 第29-31页 |
2.4 小结 | 第31-33页 |
第三章 伪火花开关导通放电的粒子模拟 | 第33-48页 |
3.1 PIC/MCC模拟方法与模拟条件 | 第33-38页 |
3.1.1 PIC/MCC模拟方法 | 第33-35页 |
3.1.2 模型构建与模拟流程 | 第35-38页 |
3.2 伪火花开关初始放电导通的粒子模拟 | 第38-40页 |
3.2.1 预放电阶段 | 第38页 |
3.2.2 空心阴极阶段 | 第38-39页 |
3.2.3 大电流发射阶段 | 第39-40页 |
3.3 伪火花开关结构参数对应用性能的影响 | 第40-43页 |
3.3.1 阴极孔径对时延的影响 | 第41页 |
3.3.2 气压对时延的影响 | 第41-42页 |
3.3.3 阳极电压对时延的影响 | 第42-43页 |
3.4 多通道伪火花开关的粒子模拟 | 第43-46页 |
3.5 小结 | 第46-48页 |
第四章 沿面闪络型伪火花开关的测试实验 | 第48-60页 |
4.1 伪火花开关结构与实验平台 | 第48-51页 |
4.1.1 TDI系列伪火花开关 | 第48-49页 |
4.1.2 输入/输出结构介绍 | 第49-50页 |
4.1.3 触发系统介绍 | 第50-51页 |
4.1.4 实验电路与平台介绍 | 第51页 |
4.2 沿面闪络伪火花开关的基本性能测试 | 第51-55页 |
4.2.1 阻抗测试 | 第51-52页 |
4.2.2 电流上升速率测试 | 第52-53页 |
4.2.3 时延测试 | 第53页 |
4.2.4 阳极电压、气压对开关时延的影响 | 第53-55页 |
4.3 高电压测量的两种电容补偿方式 | 第55-59页 |
4.3.1 薄膜伞式分压器结构与电容补偿原理 | 第55-57页 |
4.3.2 外部补偿方式 | 第57-58页 |
4.3.3 内部补偿方式 | 第58-59页 |
4.4 小结 | 第59-60页 |
第五章 总结与展望 | 第60-63页 |
5.1 主要工作和结论 | 第60-61页 |
5.2 今后工作展望 | 第61-63页 |
致谢 | 第63-64页 |
参考文献 | 第64-69页 |
作者在学期间取得的学术成果 | 第69页 |