硅系延期药配方及延期元件工艺研究
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6页 |
1 绪论 | 第12-18页 |
1.1 研究背景及意义 | 第12-13页 |
1.2 国内外研究现状 | 第13-16页 |
1.3 存在的问题与本文工作 | 第16页 |
1.4 主要研究内容 | 第16-18页 |
2 铅丹硅系延期药 | 第18-26页 |
2.1 延期药概述 | 第18-19页 |
2.2 延期药燃烧传播机理 | 第19-22页 |
2.2.1 延期药燃烧传播过程 | 第19-20页 |
2.2.2 延期药燃烧特征 | 第20-21页 |
2.2.3 铅丹硅系延期药燃烧机理 | 第21-22页 |
2.3 影响延期药性能的因素 | 第22-24页 |
2.3.1 延期药成分配比及原材料影响 | 第23页 |
2.3.2 延期体制造工艺影响 | 第23-24页 |
2.3.3 环境温度和燃烧压力影响 | 第24页 |
2.4 本章小结 | 第24-26页 |
3 延期元件结构对超细低段毫秒延期药影响 | 第26-40页 |
3.1 延期元件制备 | 第26-28页 |
3.1.1 实验仪器 | 第26-27页 |
3.1.2 延期元件制备 | 第27-28页 |
3.2 延时测试系统与数据处理方法 | 第28-31页 |
3.2.1 延时测试仪器 | 第28-29页 |
3.2.2 测试原理与方法 | 第29-30页 |
3.2.3 测时数据的处理 | 第30-31页 |
3.3 延时测试结果 | 第31-37页 |
3.4 本章小结 | 第37-40页 |
4 高段毫秒复合氧化剂延期药制备与测试 | 第40-58页 |
4.1 高段毫秒复合氧化剂延期药剂制备 | 第40-50页 |
4.1.1 原材料 | 第40-41页 |
4.1.2 实验仪器 | 第41-43页 |
4.1.3 原材料粒度分析 | 第43-45页 |
4.1.4 高段毫秒药剂配方的选用 | 第45-46页 |
4.1.5 延期药制备 | 第46-49页 |
4.1.6 延期元件的制备 | 第49-50页 |
4.2 高段毫秒延期药延时测试与分析 | 第50-52页 |
4.3 延期药燃烧产物的XRD测试 | 第52-57页 |
4.3.1 X-射线衍射仪 | 第53页 |
4.3.2 XRD结果分析 | 第53-57页 |
4.4 本章小结 | 第57-58页 |
5 缓燃剂对高段毫秒延期药延时影响 | 第58-70页 |
5.1 缓燃剂理化性质及来源 | 第58-59页 |
5.2 延期药剂制备 | 第59-60页 |
5.3 延期时间测试与处理 | 第60-66页 |
5.3.1 复合缓燃剂延期时间测试结果 | 第60-63页 |
5.3.2 添加氟化钙药剂延期时间的测试结果 | 第63-66页 |
5.4 复合缓燃剂TG实验及结果 | 第66-67页 |
5.5 本章小结 | 第67-70页 |
6 结论与展望 | 第70-72页 |
6.1 结论 | 第70-71页 |
6.2 展望 | 第71-72页 |
参考文献 | 第72-76页 |
附录热分析图 | 第76-80页 |
致谢 | 第80-82页 |
作者简介及读研期间主要科研成果 | 第82页 |