| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 目录 | 第8-10页 |
| 1 绪论 | 第10-31页 |
| 1.1 课题来源 | 第10页 |
| 1.2 课题研究的背景和意义 | 第10-14页 |
| 1.3 三维视觉表面缺陷检测的研究现状与面临的主要问题 | 第14-27页 |
| 1.4 线结构光扫描三维缺陷检测的关键技术 | 第27-28页 |
| 1.5 本文主要内容安排 | 第28-30页 |
| 1.6 本章小结 | 第30-31页 |
| 2 三维表面缺陷扫描系统的数学模型 | 第31-40页 |
| 2.1 线结构光视觉传感器的组成结构与一般测量模型 | 第31-32页 |
| 2.2 线结构光三维扫描系统的简化数学模型 | 第32-33页 |
| 2.3 理想小孔成像线结构光视觉传感器测量模型 | 第33-37页 |
| 2.4 考虑畸变的线结构光视觉传感器与三维扫描系统数学模型 | 第37-39页 |
| 2.5 本章小结 | 第39-40页 |
| 3 线结构光视觉传感器的参数标定与精度分析 | 第40-61页 |
| 3.1 线结构光视觉传感器内部参数标定 | 第40-42页 |
| 3.2 结构光视觉传感器外部参数标定方法分析 | 第42-44页 |
| 3.3 基于锯齿立体靶标的传感器直接标定法 | 第44-48页 |
| 3.4 基于 3 圆点平面靶标的传感器标定法 | 第48-58页 |
| 3.5 3 圆点平面靶标与锯齿靶标参数标定的精度对比分析 | 第58-60页 |
| 3.6 本章小结 | 第60-61页 |
| 4 线结构光条纹中心线提取的图像处理方法研究 | 第61-76页 |
| 4.1 常见的条纹中心线提取图像处理处理方法 | 第61-63页 |
| 4.2 STEGER 法提取条纹中心线 | 第63-69页 |
| 4.3 基于方向场的全自动条纹亚像素中心快速提取法 | 第69-72页 |
| 4.4 不同环境下快速提取法与 STEGER 法条纹中心线提取效果对比分析 | 第72-75页 |
| 4.5 本章小结 | 第75-76页 |
| 5 基于点云数据的三维表面缺陷识别 | 第76-94页 |
| 5.1 ICP 点云配准算法的基本原理与直接 ICP 配准效率分析 | 第76-79页 |
| 5.2 基于高度颜色映射的降维 ICP 配准与三维表面缺陷识别 | 第79-90页 |
| 5.3 高度颜色映射缺陷识别法效率对比分析 | 第90-93页 |
| 5.4 本章小结 | 第93-94页 |
| 6 三维表面缺陷在线检测系统应用研究 | 第94-106页 |
| 6.1 三维表面缺陷在线检测系统的总体结构 | 第94-98页 |
| 6.2 检测系统标定 | 第98-101页 |
| 6.3 应用实例 | 第101-105页 |
| 6.4 本章小结 | 第105-106页 |
| 7 全文总结与展望 | 第106-108页 |
| 7.1 全文总结 | 第106-107页 |
| 7.2 下一步工作与展望 | 第107-108页 |
| 致谢 | 第108-109页 |
| 参考文献 | 第109-119页 |
| 附录 A 攻读博士学位期间发表的论文和参与的项目 | 第119-120页 |
| 附录 B 检测系统软件的主要类结构设计 | 第120-123页 |
