| 摘要 | 第13-17页 |
| ABSTRACT | 第17-20页 |
| 第一章 绪论 | 第21-36页 |
| 1.1 引言 | 第21页 |
| 1.2 提拉法(Cz法)简介 | 第21-22页 |
| 1.3 提拉法晶体生长基本过程 | 第22-27页 |
| 1.3.1 前期准备工作 | 第23-24页 |
| 1.3.2 晶体生长 | 第24-27页 |
| 1.4 结晶驱动力 | 第27-28页 |
| 1.5 晶体生长系统中的传质和传热 | 第28-32页 |
| 1.5.1 传质 | 第28-30页 |
| 1.5.2 传热 | 第30-32页 |
| 1.6 生长界面 | 第32-33页 |
| 1.6.1 生长界面的稳定性 | 第32页 |
| 1.6.2 界面形状 | 第32-33页 |
| 1.7 影响氧化物晶体质量的重要因素 | 第33-35页 |
| 1.7.1 晶体生长环境中极少量的水分对晶体质量的影响 | 第34页 |
| 1.7.2 气氛配比对氧化物晶体生长的影响 | 第34-35页 |
| 1.7.3 熔体粘度对晶体质量的影响 | 第35页 |
| 1.8 本章小结 | 第35-36页 |
| 第二章 水分子对C12A7晶体生长的影响 | 第36-50页 |
| 2.1 研究背景 | 第36-40页 |
| 2.1.1 CaO—Al_2O_3相图 | 第37页 |
| 2.1.2 C12A7对气氛的敏感性 | 第37-38页 |
| 2.1.3 早期C12A7单晶的生长 | 第38-40页 |
| 2.2 提拉法生长C12A7晶体 | 第40-43页 |
| 2.2.1 晶体生长过程 | 第40-41页 |
| 2.2.2 实验结果与讨论 | 第41-43页 |
| 2.3 晶体表层开裂内部完整的原因分析 | 第43-44页 |
| 2.4 晶体表层开裂内部完整的实验探究及讨论 | 第44-49页 |
| 2.4.1 粉末XRD | 第44-45页 |
| 2.4.2 拉曼光谱 | 第45页 |
| 2.4.3 热重分析(TGA) | 第45-46页 |
| 2.4.4 退火实验、红外光谱 | 第46-49页 |
| 2.5 本章小结 | 第49-50页 |
| 第三章 气氛配比对长Nd:LGGG晶体生长的影响 | 第50-64页 |
| 3.1 研究背景 | 第50-56页 |
| 3.1.1 激光晶体Nd:GGG | 第50-54页 |
| 3.1.2 Nd:GSGG晶体 | 第54-55页 |
| 3.1.3 Nd:GAGG晶体 | 第55页 |
| 3.1.4 Nd:LGGG晶体 | 第55-56页 |
| 3.2 长Nd:LGGG晶体生长 | 第56-57页 |
| 3.3 长Nd:LGGG晶体生长实验现象分析与解决方案 | 第57-60页 |
| 3.4 长Nd:LGGG晶体质量 | 第60-61页 |
| 3.5 长Nd:LGGG晶体激光性能研究 | 第61-63页 |
| 3.6 本章小结 | 第63-64页 |
| 第四章 熔体粘度对Ca_2Al_2SiO_7晶体质量的影响 | 第64-93页 |
| 4.1 研究背景 | 第64-68页 |
| 4.1.1 CAS晶体简介 | 第64-66页 |
| 4.1.2 早期CAS晶体生长 | 第66-68页 |
| 4.2 提拉法生长CAS晶体 | 第68-69页 |
| 4.3 CAS晶体生长过程所遇问题及解决方案 | 第69-76页 |
| 4.3.1 晶体开裂 | 第69-72页 |
| 4.3.2 气泡以及散射点 | 第72-76页 |
| 4.3.2.1 CGS多晶料的合成 | 第73页 |
| 4.3.2.2 CAGS晶体的生长 | 第73-75页 |
| 4.3.2.3 晶体元素含量测定 | 第75页 |
| 4.3.2.4 CAGS晶体结构 | 第75-76页 |
| 4.4 掺杂降低熔体粘度可行性的验证 | 第76-91页 |
| 4.4.1 晶体加工 | 第77-78页 |
| 4.4.2 热学性能比较 | 第78-81页 |
| 4.4.2.1 比热 | 第78-79页 |
| 4.4.2.2 热扩散及热导率 | 第79-81页 |
| 4.4.3 晶体质量比较 | 第81-83页 |
| 4.4.4 CAS和CAGS晶体室温电弹性能比较 | 第83-87页 |
| 4.4.4.1 测试方法介绍 | 第84页 |
| 4.4.4.2 切型设计 | 第84-85页 |
| 4.4.4.3 室温电弹性能测试结果 | 第85-87页 |
| 4.4.5 CAS、CAGS晶体电弹性能温度稳定性比较 | 第87-91页 |
| 4.4.5.1 高温电阻率 | 第87-88页 |
| 4.4.5.2 介电性能的温度稳定性 | 第88-90页 |
| 4.4.5.3 弹性常数的温度稳定性 | 第90页 |
| 4.4.5.4 机电耦合系数及压电系数的温度稳定性 | 第90-91页 |
| 4.5 本章小结 | 第91-93页 |
| 第五章 工作总结与展望 | 第93-97页 |
| 5.1 主要实验结论 | 第93-95页 |
| 5.1.1 水分子对C12A7晶体生长的影响 | 第93-94页 |
| 5.1.2 气氛配比对长Nd:LGGG晶体生长的影响 | 第94页 |
| 5.1.3 熔体粘度对CAS晶体生长的影响 | 第94-95页 |
| 5.2 主要创新点 | 第95页 |
| 5.3 工作展望 | 第95-97页 |
| 参考文献 | 第97-104页 |
| 攻读学位期间完成的学术论文 | 第104-105页 |
| 6.1 第一作者文章 | 第104页 |
| 6.2 合作文章 | 第104-105页 |
| 致谢 | 第105-107页 |
| 附件 | 第107-111页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第111页 |
