256×320阵列多功能红外读出电路的设计
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| ·红外探测技术产生和发展 | 第8页 |
| ·红外焦平面阵列 | 第8-11页 |
| ·红外探测器 | 第9-10页 |
| ·红外读出电路 | 第10-11页 |
| ·论文组织结构 | 第11-13页 |
| 第二章 红外读出电路的研究与设计 | 第13-18页 |
| ·读出电路输入级研究 | 第13-14页 |
| ·读出电路视窗选择技术研究 | 第14-15页 |
| ·读出电路高速多通道输出与低功耗设计 | 第15-16页 |
| ·读出电路动态范围提高技术研究 | 第16-17页 |
| ·本章小结 | 第17-18页 |
| 第三章 读出电路中数字逻辑功能设计及仿真 | 第18-41页 |
| ·整体红外读出电路的数字系统设计 | 第18-20页 |
| ·Default模式 | 第18-19页 |
| ·Command模式 | 第19-20页 |
| ·数字寄存器模块电路 | 第20-26页 |
| ·数字寄存器模块的基本结构组成 | 第20-21页 |
| ·启动控制部分 | 第21页 |
| ·串行寄存器部分 | 第21-22页 |
| ·数据寄存器模块仿真波形 | 第22-26页 |
| ·行列地址产生模块电路设计 | 第26-33页 |
| ·行启动电路和列启动电路 | 第27-28页 |
| ·格雷码计数器 | 第28-29页 |
| ·减法计数器 | 第29-30页 |
| ·行地址译码器和列地址译码器 | 第30-31页 |
| ·行电路模块仿真波形 | 第31-32页 |
| ·列电路模块仿真波形 | 第32-33页 |
| ·多路输出选择模块电路设计 | 第33-40页 |
| ·起始控制信号产生电路 | 第34-36页 |
| ·输出路数选择电路 | 第36-37页 |
| ·输出端口电路 | 第37页 |
| ·多路输出选择电路仿真结果 | 第37-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 像素单元信号处理模块设计 | 第41-51页 |
| ·像素单元的设计 | 第41-43页 |
| ·电平移位电路结构设计及仿真 | 第43-44页 |
| ·电平移位电路结构设计 | 第43页 |
| ·电平移位电路仿真 | 第43-44页 |
| ·电荷放大电路结构设计及仿真 | 第44-47页 |
| ·电荷放大电路结构设计 | 第44-46页 |
| ·电荷放大电路线性仿真 | 第46-47页 |
| ·列级输出缓冲电路结构设计及仿真 | 第47-48页 |
| ·输出缓冲器电路 | 第47-48页 |
| ·列级输出缓冲电路仿真 | 第48页 |
| ·输出缓冲器电路结构设计及仿真 | 第48-50页 |
| ·输出缓冲器电路结构设计 | 第48-49页 |
| ·输出缓冲器仿真 | 第49-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第五章 整体电路仿真及版图设计 | 第51-55页 |
| ·整体版图的设计 | 第51-54页 |
| ·像素单元的版图设计 | 第51页 |
| ·列信号处理电路的版图设计 | 第51-52页 |
| ·输出缓冲器的版图设计 | 第52页 |
| ·数字单元电路的版图设计 | 第52-53页 |
| ·ESD和PAD的版图设计 | 第53页 |
| ·整体电路版图的设计 | 第53-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第六章 芯片测试分析 | 第55-66页 |
| ·芯片功能测试结果及分析 | 第55-60页 |
| ·default模式测试 | 第55-56页 |
| ·窗口模式测试 | 第56-57页 |
| ·功能测试 | 第57-60页 |
| ·芯片性能测试结果及分析 | 第60-65页 |
| ·探测器偏压测试 | 第60-61页 |
| ·功耗测试 | 第61-62页 |
| ·增益测试 | 第62-63页 |
| ·线性度和输出摆幅测试 | 第63-65页 |
| ·测试总结 | 第65-66页 |
| 第七章 总结与展望 | 第66-68页 |
| ·总结 | 第66-67页 |
| ·展望 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-70页 |
| 附录1 攻读硕士学位期间申请的专利 | 第70-71页 |
| 附录2 攻读硕士学位期间参加的科研项目 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72页 |
