| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-7页 |
| 引言 | 第7-11页 |
| 第一部分 电子线残余辐射的监测与评价 | 第11-27页 |
| ·设备和方法 | 第11-12页 |
| ·设备 | 第11页 |
| ·方法 | 第11-12页 |
| ·结果与分析 | 第12-25页 |
| ·开机前的辐射水平 | 第12页 |
| ·残余辐射剂量率的变化 | 第12-22页 |
| ·不同能量电子线在不同距离和时间点时的残余辐射剂量率 | 第22-25页 |
| ·不同距离及能量的电子线恢复到正常辐射水平所需时间 | 第25页 |
| ·讨论 | 第25-27页 |
| 第二部分 X 射线残余辐射的监测与评价 | 第27-36页 |
| ·设备和方法 | 第27-28页 |
| ·设备 | 第27页 |
| ·方法 | 第27-28页 |
| ·结果与分析 | 第28-34页 |
| ·开机前的辐射水平 | 第28页 |
| ·残余辐射剂量率的变化 | 第28-33页 |
| ·不同能量 X 射线在不同距离和时间点时的残余辐射剂量率 | 第33-34页 |
| ·不同距离及能量的 X 射线恢复到正常辐射水平所需时间 | 第34页 |
| ·讨论 | 第34-36页 |
| 第三部分 结论 | 第36-37页 |
| 参考文献 | 第37-38页 |
| 综述 | 第38-44页 |
| 参考文献 | 第42-44页 |
| 缩略词表 | 第44-45页 |
| 研究生期间发表论文 | 第45-46页 |
| 致谢 | 第46-47页 |