| 中文摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-13页 |
| 第一章 前言 | 第13-23页 |
| ·高压电学研究的意义 | 第13-14页 |
| ·交流阻抗谱法的解析方法 | 第14-19页 |
| ·交流阻抗谱法在高压原位电学性质研究中的应用 | 第19-20页 |
| ·本论文的选题目的和意义 | 第20-21页 |
| ·论文各部分的主要内容 | 第21-23页 |
| 第二章 基于阻抗谱法的介电测量微电路集成 | 第23-33页 |
| ·测量微电路在金刚石对顶砧上的集成 | 第23-25页 |
| ·电极集成过程 | 第23-24页 |
| ·复合绝缘垫片的制备过程 | 第24-25页 |
| ·电极的组装、电场分布及误差分析 | 第25-30页 |
| ·测量装置与方法 | 第30-33页 |
| 第三章 高压下 MNbO_3(M=Li, Na, K)的结构、电学性质研究 | 第33-71页 |
| ·钙钛矿研究背景 | 第33-37页 |
| ·钙钛矿型氧化物 | 第33-34页 |
| ·钙钛矿型铁电材料 | 第34-36页 |
| ·钙钛矿型铁电材料的高压研究概况 | 第36-37页 |
| ·高压下 LiNbO_3的电学性质研究 | 第37-51页 |
| ·LiNbO_3的研究背景 | 第37-38页 |
| ·LiNbO_3高压交流阻抗谱测量 | 第38-46页 |
| ·LiNbO_3的第一性原理计算 | 第46-49页 |
| ·LiNbO_3中离子导电和电子导电的贡献比较 | 第49-51页 |
| ·高压下 NaNbO_3的结构和电学性质研究 | 第51-61页 |
| ·NaNbO_3的研究背景 | 第51-53页 |
| ·NaNbO_3的高压 X 射线衍射研究 | 第53-55页 |
| ·NaNbO_3的第一性原理结构预测 | 第55-56页 |
| ·NaNbO_3的高压阻抗谱测量 | 第56-61页 |
| ·高压下 KNbO_3的电学性质研究 | 第61-68页 |
| ·KNbO_3的研究背景 | 第61-62页 |
| ·KNbO_3高压交流阻抗谱测量 | 第62-65页 |
| ·KNbO_3的第一性原理计算 | 第65-68页 |
| ·三种化合物的高压电学性质比较 | 第68-69页 |
| ·本章小结 | 第69-71页 |
| 第四章 高压下 B_(12)As_2的电学性质研究 | 第71-85页 |
| ·研究背景 | 第71-74页 |
| ·B_(12)As_2的高压交流阻抗谱测量 | 第74-81页 |
| ·B_(12)As_2的高压直流电阻率测量 | 第81-83页 |
| ·本章小结 | 第83-85页 |
| 第五章 总结与展望 | 第85-89页 |
| 参考文献 | 第89-101页 |
| 作者简介及在学期间所取得的科研成果 | 第101-103页 |
| 致谢 | 第103页 |