电子元器件低频电噪声测试技术及应用研究
| 作者简介 | 第1-4页 |
| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-21页 |
| ·研究背景和意义 | 第13-14页 |
| ·国内外研究概况与存在的问题 | 第14-18页 |
| ·研究概况 | 第14-17页 |
| ·存在问题 | 第17-18页 |
| ·本文研究内容及安排 | 第18-21页 |
| ·研究内容 | 第18-19页 |
| ·论文内容安排 | 第19-21页 |
| 第二章 电子元器件噪声与模型 | 第21-29页 |
| ·电子元器件噪声分类与特性 | 第21-24页 |
| ·噪声的分类 | 第21-22页 |
| ·电子元器件噪声的特性 | 第22-24页 |
| ·电子元器件噪声模型 | 第24-28页 |
| ·热噪声模型 | 第24-25页 |
| ·散粒噪声模型 | 第25页 |
| ·G-R 噪声模型 | 第25-26页 |
| ·1/f 噪声模型 | 第26-27页 |
| ·RTS 噪声模型 | 第27-28页 |
| ·小结 | 第28-29页 |
| 第三章 电子元器件噪声测试方法与技术 | 第29-59页 |
| ·噪声测试基本参量 | 第29-32页 |
| ·输出噪声 | 第29-30页 |
| ·等效输入噪声 | 第30-31页 |
| ·噪声系数 | 第31-32页 |
| ·传输函数 | 第32页 |
| ·噪声测试偏置技术 | 第32-38页 |
| ·直流偏置技术 | 第33-35页 |
| ·交流偏置技术 | 第35-36页 |
| ·低噪声偏置源 | 第36-38页 |
| ·低噪声放大技术 | 第38-45页 |
| ·双通道互谱测试技术 | 第38-40页 |
| ·并联结构的低噪声方法 | 第40-42页 |
| ·电流噪声扩频测试技术 | 第42-45页 |
| ·数据采集技术 | 第45-48页 |
| ·DMA 双缓冲技术 | 第45-47页 |
| ·数据流盘技术 | 第47-48页 |
| ·噪声数据处理技术 | 第48-53页 |
| ·白噪声与 1/f 噪声拟合 | 第48-50页 |
| ·G-R 噪声的拟合 | 第50-52页 |
| ·RTS 噪声提取 | 第52-53页 |
| ·测试误差分析 | 第53-56页 |
| ·放大器误差 | 第53-54页 |
| ·数据采集卡误差分析 | 第54-56页 |
| ·系统带宽误差分析 | 第56页 |
| ·小结 | 第56-59页 |
| 第四章 器件介观散粒噪声测试与应用 | 第59-85页 |
| ·器件尺度与介观散粒噪声 | 第59-61页 |
| ·散粒噪声测试原理与方法 | 第61-67页 |
| ·基于 SQUID 的散粒噪声测试 | 第61-63页 |
| ·基于 SIS 的散粒噪声测试 | 第63-65页 |
| ·低噪声电压放大器的散粒噪声测试 | 第65-67页 |
| ·散粒噪声测试条件研究 | 第67-68页 |
| ·温度和偏置条件 | 第67页 |
| ·测试频率 | 第67-68页 |
| ·系统背景噪声要求 | 第68页 |
| ·测试系统建立与验证 | 第68-75页 |
| ·测试系统设计 | 第69-70页 |
| ·系统操作与验证 | 第70-74页 |
| ·验证样品测试结果与分析 | 第74-75页 |
| ·基于散粒噪声背散射系数提取 | 第75-82页 |
| ·散粒噪声背散射系数理论算法 | 第76-78页 |
| ·参数提取方法及步骤 | 第78-79页 |
| ·实验与模拟提取计算 | 第79-82页 |
| ·基于散粒噪声的可靠性表征 | 第82-84页 |
| ·小结 | 第84-85页 |
| 第五章 电阻器噪声测试技术与应用 | 第85-109页 |
| ·电流噪声系数 | 第85-86页 |
| ·现有标准存在的问题及改进方法 | 第86-93页 |
| ·改进的桥式测量电路 | 第87-88页 |
| ·带通滤波器改进 | 第88-90页 |
| ·消除隔离电阻影响 | 第90-92页 |
| ·测试电压优化 | 第92-93页 |
| ·测试系统设计与制作 | 第93-99页 |
| ·硬件系统 | 第93-97页 |
| ·软件系统 | 第97-99页 |
| ·薄、厚膜电阻器电流噪声系数测试 | 第99-103页 |
| ·薄膜电阻器 | 第99-100页 |
| ·厚膜电阻器 | 第100-101页 |
| ·实验方案 | 第101页 |
| ·测试结果 | 第101-103页 |
| ·电阻浆料低频噪声表征 | 第103-107页 |
| ·噪声与浆料可靠性 | 第104-105页 |
| ·电阻浆料低频噪声表征 | 第105页 |
| ·样品及测试结果讨论 | 第105-107页 |
| ·小结 | 第107-109页 |
| 第六章 光电探测器噪声及应用表征 | 第109-137页 |
| ·光电探测器低频噪声测试 | 第109-113页 |
| ·光电探测器低频噪声测量原理 | 第109-110页 |
| ·测试系统构建 | 第110-113页 |
| ·PbS 红外探测器低频噪声物理模型 | 第113-119页 |
| ·1/f 噪声物理模型 | 第113-116页 |
| ·G-R 噪声物理模型 | 第116-117页 |
| ·噪声模型验证 | 第117-119页 |
| ·PbS 红外探测器缺陷表征研究 | 第119-122页 |
| ·1/f 噪声表征表面缺陷 | 第119-120页 |
| ·G-R 噪声表征深能级缺陷 | 第120-122页 |
| ·雪崩光电二极管噪声测试应用 | 第122-134页 |
| ·APD 噪声与性能影响 | 第122-126页 |
| ·APD 测试结果分析 | 第126-131页 |
| ·APD 噪声应用 | 第131-134页 |
| ·小结 | 第134-137页 |
| 第七章 微波与射频器件噪声测试与应用 | 第137-169页 |
| ·微波器件低频噪声与应力损伤 | 第137-142页 |
| ·器件噪声来源 | 第137-139页 |
| ·微波与射频器件热应力损伤 | 第139-140页 |
| ·微波与射频器件的静电应力损伤 | 第140-142页 |
| ·微波器件测试系统与方案 | 第142-148页 |
| ·I-V 特性测试 | 第142-143页 |
| ·低频噪声测试系统 | 第143-144页 |
| ·测试样品与方案 | 第144-148页 |
| ·热应力测试与分析 | 第148-156页 |
| ·电学参数热应力退化分析 | 第148-150页 |
| ·低频噪声结果与分析 | 第150-152页 |
| ·噪声应用于热应力表征 | 第152-156页 |
| ·ESD 应力测试与分析 | 第156-168页 |
| ·射频开关测试与分析 | 第156-164页 |
| ·射频放大器噪声测试与分析 | 第164-166页 |
| ·噪声应用与射频器件表征 | 第166-168页 |
| ·小结 | 第168-169页 |
| 第八章 结论 | 第169-173页 |
| 致谢 | 第173-175页 |
| 参考文献 | 第175-191页 |
| 攻读博士学位期间的研究成果 | 第191-193页 |
