摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-8页 |
第一章 绪论 | 第8-13页 |
·无线通信系统发展简介 | 第8-10页 |
·系统共存研究现状 | 第10-11页 |
·论文主要内容 | 第11-13页 |
第二章 TD-SCDMA系统及其主要技术介绍 | 第13-30页 |
·网络结构 | 第13-15页 |
·物理层结构 | 第15-17页 |
·关键技术 | 第17-28页 |
·功率控制技术 | 第17-23页 |
·智能天线 | 第23-26页 |
·接力切换 | 第26-27页 |
·联合检测技术 | 第27-28页 |
·动态信道分配技术 | 第28页 |
·本章小结 | 第28-30页 |
第三章 LTE-TDD系统及其主要技术介绍 | 第30-40页 |
·LTE系统架构 | 第31-32页 |
·传输技术 | 第32-34页 |
·物理层结构 | 第34-37页 |
·关键技术 | 第37-39页 |
·MIMO技术 | 第37页 |
·自适应编码调制 | 第37-38页 |
·混合自动重传 | 第38-39页 |
·本章小结 | 第39-40页 |
第四章 共存干扰分析方法介绍 | 第40-44页 |
·干扰产生原因 | 第40-42页 |
·确定性计算方法及其适用范围 | 第42页 |
·仿真分析方法及其适用范围 | 第42-43页 |
·本章小结 | 第43-44页 |
第五章 TD-SCDMA系统和LTE-TDD系统仿真分析 | 第44-65页 |
·仿真模型 | 第44-52页 |
·仿真场景 | 第44-45页 |
·业务类型 | 第45页 |
·传播模型 | 第45-46页 |
·智能天线 | 第46-48页 |
·ACIR模型 | 第48页 |
·干扰计算 | 第48-50页 |
·功率控制 | 第50-52页 |
·仿真流程及参数 | 第52-55页 |
·仿真结果 | 第55-63页 |
·TD-SCDMA系统性能损失 | 第57-59页 |
·LTE-TDD系统性能损失 | 第59-63页 |
·改进意见 | 第63-64页 |
·本章小结 | 第64-65页 |
第六章 总结和展望 | 第65-67页 |
致谢 | 第67-68页 |
参考文献 | 第68-70页 |
作者攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第70页 |