探测亚表面缺陷的磁—光显微成像检测技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| 英文摘要 | 第6-13页 |
| 第1章 绪论 | 第13-36页 |
| ·课题的来源及研究的意义 | 第13-15页 |
| ·无损检测技术概述 | 第15-21页 |
| ·亚表面缺陷的成像检测方法 | 第21-29页 |
| ·磁光成像技术国内外研究的现状 | 第29-33页 |
| ·本论文的主要工作及创新点 | 第33-36页 |
| 第2章 磁-光显微成像检测技术的工作原理 | 第36-53页 |
| ·磁-光法拉第效应及其数理解释 | 第36-40页 |
| ·磁-光法拉第效应的概念 | 第36-38页 |
| ·磁-光法拉第效应的数理解释 | 第38-40页 |
| ·交变磁场下的磁-光法拉第效应 | 第40-41页 |
| ·磁-光偏转实验 | 第41-43页 |
| ·磁-光偏转实验装置 | 第41-42页 |
| ·磁-光偏转实验结果 | 第42-43页 |
| ·利用电涡流效应获得交变磁场 | 第43-51页 |
| ·工作频率对涡流传感器性能的影响 | 第46-49页 |
| ·检测距离对涡流传感器性能的影响 | 第49-51页 |
| ·线圈的几何尺寸对涡流传感器性能的影响 | 第51页 |
| ·本章小结 | 第51-53页 |
| 第3章 磁-光显微成像检测系统的设计 | 第53-89页 |
| ·检测系统的总体方案设计 | 第53-54页 |
| ·检测系统的组成 | 第54-77页 |
| ·涡流激励装置 | 第55-60页 |
| ·涡流激励装置的设计 | 第55-58页 |
| ·涡流激励装置工作参数的设计 | 第58-60页 |
| ·信号处理电路的设计 | 第60-61页 |
| ·脉冲信号发生器的设计 | 第60-61页 |
| ·脉冲信号放大电路的设计 | 第61页 |
| ·激光光源 | 第61-69页 |
| ·光学成像部分设计 | 第69-70页 |
| ·图像传感器的设计 | 第70-75页 |
| ·磁-光传感器的选择 | 第75-77页 |
| ·磁-光显微成像检测系统图像捕获软件的设计 | 第77-81页 |
| ·VFW及AVICap窗口类简介 | 第77-78页 |
| ·图像捕获软件的VC编程 | 第78-81页 |
| ·磁-光图像处理方法的设计 | 第81-86页 |
| ·中值滤波 | 第82-84页 |
| ·灰度变换 | 第84-85页 |
| ·二值化处理 | 第85-86页 |
| ·本章小结 | 第86-89页 |
| 第4章 实验与分析 | 第89-102页 |
| ·磁-光成像检测系统实验装置 | 第89-90页 |
| ·试件的制备 | 第90-92页 |
| ·表面存在缺陷的试件的制备 | 第90-91页 |
| ·亚表面存在缺陷的试件的制备 | 第91-92页 |
| ·表面缺陷的成像 | 第92页 |
| ·亚表面缺陷的成像 | 第92-96页 |
| ·覆盖层下缺陷的成像 | 第92-93页 |
| ·亚表面缺陷的成像 | 第93-96页 |
| ·利用MATLAB实现图像分析与处理 | 第96-100页 |
| ·磁-光图像的处理 | 第97-99页 |
| ·中值滤波 | 第97-98页 |
| ·图像增强 | 第98-99页 |
| ·二值化变换 | 第99页 |
| ·磁-光图像处理结果 | 第99-100页 |
| ·本章小结 | 第100-102页 |
| 第5章 提高磁-光图像分辨率方法的研究 | 第102-106页 |
| ·涡流激励装置的优化 | 第102-103页 |
| ·磁-光薄膜的选择 | 第103-104页 |
| ·磁-光图像处理方法的设计 | 第104-106页 |
| 第6章 结论与展望 | 第106-109页 |
| ·本项研究工作的创新点 | 第106-108页 |
| ·后续有待开展的研究工作 | 第108-109页 |
| 参考文献 | 第109-117页 |
| 附录 | 第117-119页 |
| 作者在读期间科研成果简介 | 第119-121页 |
| 致谢 | 第121页 |
