ZnO光子晶体的自组装可控生长
摘 要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-9页 |
第一章 绪言 | 第9-11页 |
·研究背景 | 第9页 |
·问题的提出 | 第9-10页 |
·本文的工作 | 第10-11页 |
第二章 光子晶体概述 | 第11-32页 |
·光子晶体及其能带结构 | 第11-14页 |
·光子晶体 | 第11页 |
·光子能带 | 第11-12页 |
·光子能带的分类与产生 | 第12-14页 |
·光子晶体中的缺陷能级 | 第14页 |
·光子晶体的特征 | 第14-17页 |
·光子禁带 | 第14-15页 |
·光子局域现象 | 第15-16页 |
·其他特征 | 第16-17页 |
·光子晶体的分类 | 第17-18页 |
·一维光子晶体 | 第17页 |
·二维光子晶体 | 第17-18页 |
·三维光子晶体 | 第18页 |
·光子晶体的应用与发展现状 | 第18-23页 |
·光子晶体反射器件 | 第18-19页 |
·光子晶体偏振器 | 第19-20页 |
·光子晶体发光二极管 | 第20页 |
·光子晶体滤波器 | 第20页 |
·光子晶体光纤 | 第20-22页 |
·光子晶体波导 | 第22页 |
·光子晶体微谐振腔 | 第22-23页 |
·展望 | 第23页 |
·光子晶体的制备方法 | 第23-31页 |
·精密机械加工法 | 第23-24页 |
·半导体制造技术 | 第24-25页 |
·自组装法 | 第25-29页 |
·重力场下的自组装 | 第26-27页 |
·垂直沉降法 | 第27页 |
·离心力场下的自组装 | 第27-28页 |
·电场下的自组装 | 第28页 |
·模板法 | 第28-29页 |
·激光制造法 | 第29-31页 |
·激光微制造法 | 第29-30页 |
·激光全息制造法 | 第30-31页 |
·小结 | 第31-32页 |
第三章 ZnO 光子晶体的制备方法与性能测试原理 | 第32-42页 |
·实验方法 | 第32-33页 |
·试剂与实验设备 | 第32-33页 |
·基片的清洗 | 第33页 |
·ZnO 光子晶体的制备 | 第33-37页 |
·ZnO 胶体球悬浮液的制备 | 第33-35页 |
·配制清液 | 第33-34页 |
·制备 ZnO 胶体球 | 第34页 |
·配制 ZnO 胶体球悬浮液 | 第34-35页 |
·ZnO 光子晶体的组装 | 第35-37页 |
·传统的重力自组装法 | 第36页 |
·滴涂法 | 第36页 |
·旋涂法 | 第36-37页 |
·ZnO 光子晶体的微观表征与性能测试 | 第37-42页 |
·X 射线衍射(XRD)的原理与用途 | 第37-38页 |
·扫描电子显微镜(SEM)工作原理 | 第38-39页 |
·原子力显微镜(AFM)工作原理 | 第39-40页 |
·荧光分光光度计 | 第40-42页 |
第四章 ZnO 光子晶体的自组装可控生长 | 第42-59页 |
·ZnO 胶体球的可控生长 | 第42-45页 |
·ZnO 胶体球制备原理 | 第42-43页 |
·温度对ZnO 胶体球的影响 | 第43-44页 |
·溶液A 用量对ZnO 胶体球的影响 | 第44-45页 |
·ZnO 光子晶体的可控生长 | 第45-52页 |
·胶体悬浮液的浓度对ZnO 光子晶体有序性的影响 | 第45-46页 |
·前处理温度对ZnO 光子晶体有序性的影响 | 第46-48页 |
·胶体球的粒径大小对ZnO 光子晶体有序性的影响 | 第48页 |
·基片洁净程度对ZnO 光子晶体有序性的影响 | 第48-49页 |
·自组装方式对ZnO 光子晶体有序性的影响 | 第49-52页 |
·重力自组装法 | 第49-51页 |
·滴涂法 | 第51页 |
·旋涂法 | 第51-52页 |
·光子禁带的可调控性能研究 | 第52-56页 |
·胶体球粒径对光子禁带的影响 | 第52-54页 |
·前处理温度对光子禁带的影响 | 第54-55页 |
·入射角对光子禁带的影响 | 第55-56页 |
·ZnO 光子晶体的其它性能测试 | 第56-59页 |
·X 射线衍射(XRD) | 第56-57页 |
·光致发光谱 | 第57-59页 |
第五章 结论 | 第59-60页 |
致谢 | 第60-61页 |
参考文献 | 第61-65页 |
攻硕期间取得的研究成果 | 第65页 |