| 独创性声明 | 第1页 |
| 学位论文版权使用授权书 | 第3-4页 |
| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 目录 | 第9-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-37页 |
| ·引言 | 第13-14页 |
| ·微流控芯片结构尺寸、形貌测量技术 | 第14-19页 |
| ·扫描电子显微镜(SEM)测量技术 | 第14-16页 |
| ·机械探针式轮廓仪测量技术 | 第16-17页 |
| ·光学轮廓仪测量技术 | 第17-18页 |
| ·原子力显微镜测量技术 | 第18-19页 |
| ·基于 CCD的形貌、尺寸测量技术 | 第19页 |
| ·微流控系统中微流体温度测量技术 | 第19-30页 |
| ·系统外部测温技术 | 第20-21页 |
| ·基于液体物理参数变化的测温技术 | 第21-22页 |
| ·通过电流变化测温 | 第21页 |
| ·通过流速变化测温 | 第21-22页 |
| ·吸收光谱法测温技术 | 第22页 |
| ·热色液晶测温技术 | 第22-23页 |
| ·荧光强度测温技术 | 第23-25页 |
| ·分子信标测温技术 | 第25-27页 |
| ·基于激光的界面测温技术 | 第27-29页 |
| ·反向散射干涉测温法 | 第29-30页 |
| ·微流控系统中微流体速度测量技术 | 第30-35页 |
| ·集成化流速传感器测速技术 | 第30-31页 |
| ·标记物测速技术 | 第31-32页 |
| ·微粒成像测速技术 | 第32-34页 |
| ·共焦荧光检测测速技术 | 第34-35页 |
| ·本文工作目的及总体设计思路 | 第35-37页 |
| 第二章 基于PDMS复制及CCD成像的微流控芯片形貌特征及尺寸测量技术的研究 | 第37-58页 |
| ·引言 | 第37-39页 |
| ·实验部分 | 第39-43页 |
| ·仪器和装置 | 第39-40页 |
| ·仪器型号及来源 | 第39页 |
| ·实验装置 | 第39-40页 |
| ·PDMS复制模型及样品切片的准备 | 第40-42页 |
| ·测量过程 | 第42-43页 |
| ·结果与讨论 | 第43-56页 |
| ·PDMS性质及微结构复制过程的优化 | 第43-45页 |
| ·PDMS的高保真复制特性 | 第43页 |
| ·PDMS的染色处理 | 第43-45页 |
| ·图像数据处理及尺寸计算 | 第45-49页 |
| ·图像的边缘检测 | 第46-48页 |
| ·系统放大比例系数的确定 | 第48-49页 |
| ·形貌测量结果的比较 | 第49-53页 |
| ·与SEM测量结果的比较 | 第49-51页 |
| ·与机械探针式轮廓仪测量结果的比较 | 第51-53页 |
| ·尺寸测量结果的比较 | 第53-54页 |
| ·几种常用材料微流控芯片的结构表征 | 第54-56页 |
| ·结论 | 第56-58页 |
| 第三章 基于荧光指示剂的微流体温度测量技术及微流控系统温度控制技术的研究 | 第58-88页 |
| ·引言 | 第58-59页 |
| ·基于荧光指示剂的微流体温度测量原理 | 第59-60页 |
| ·实验部分 | 第60-67页 |
| ·试剂和材料 | 第60-61页 |
| ·仪器型号和来源 | 第61-62页 |
| ·微芯片的加工 | 第62页 |
| ·温度控制装置 | 第62-64页 |
| ·ITO玻璃加热器的制作 | 第64页 |
| ·测量系统构成 | 第64-66页 |
| ·实验操作 | 第66页 |
| ·温度的标定 | 第66-67页 |
| ·结果与讨论 | 第67-86页 |
| ·荧光灯作为测温激发光源的若干考虑 | 第67-71页 |
| ·作为加热部件材料的ITO玻璃特性及其电阻值计算 | 第71-72页 |
| ·ITO薄膜导电玻璃特性 | 第71-72页 |
| ·ITO薄膜阻值计算 | 第72页 |
| ·温度控制装置性能的考察 | 第72-76页 |
| ·Pt100铂电阻温度传感器性能 | 第73-74页 |
| ·温度控制曲线 | 第74页 |
| ·温度标定时指示剂的温度控制 | 第74-76页 |
| ·温度标定的规一化方法 | 第76-80页 |
| ·两点规一化 | 第77-78页 |
| ·单点规一化 | 第78-80页 |
| ·图像噪声及光照非均匀性的数学处理 | 第80-81页 |
| ·玻璃微芯片通道内外温度差的测量 | 第81-83页 |
| ·温度梯度芯片的梯度测量 | 第83-84页 |
| ·温度梯度加热器的性能考察 | 第84-85页 |
| ·随时间变化的测温性能的考察 | 第85-86页 |
| ·结论 | 第86-88页 |
| 第四章 微流控系统中粒子示踪测速技术的研究 | 第88-106页 |
| ·引言 | 第88-89页 |
| ·μ-PIV测速原理 | 第89-91页 |
| ·实验部分 | 第91-94页 |
| ·实验试剂及实验用芯片 | 第91页 |
| ·仪器型号及来源 | 第91-92页 |
| ·实验装置 | 第92-93页 |
| ·实验操作及图像采集 | 第93-94页 |
| ·图像分析及速度计算 | 第94页 |
| ·结果与讨论 | 第94-105页 |
| ·示踪微粒的选择 | 第94-95页 |
| ·示踪微粒分布密度的影响 | 第95-96页 |
| ·μ-PIV测速方法的应用 | 第96-105页 |
| ·对液位静压差产生的液流流速的测量 | 第96-99页 |
| ·微流控芯片倾斜度对通道中微流体流动状态的影响 | 第99-104页 |
| ·液面表面张力对液流流速的影响 | 第104-105页 |
| ·结论 | 第105-106页 |
| 参考文献 | 第106-113页 |
| 致谢 | 第113-114页 |
| 攻读博士学位期间发表主要论文目录 | 第114页 |