基于分布式偏振耦合测试仪的保偏光纤中双折射色散的研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| ·论文的研究目的 | 第8页 |
| ·分布式偏振耦合测试的意义 | 第8-11页 |
| ·保偏光纤介绍 | 第9-10页 |
| ·光纤陀螺 | 第10页 |
| ·偏振模式耦合的形成及检测 | 第10-11页 |
| ·本论文的主要工作 | 第11-13页 |
| 第二章 分布式偏振耦合测试仪的结构及其测试原理 | 第13-23页 |
| ·白光干涉测量理论 | 第13-15页 |
| ·白光干涉理论 | 第13-14页 |
| ·白光干涉仪的基本结构 | 第14-15页 |
| ·白光干涉法偏振耦合测试原理 | 第15-20页 |
| ·测试原理 | 第16页 |
| ·耦合点干涉分析 | 第16-18页 |
| ·耦合点位置和耦合强度的计算 | 第18-19页 |
| ·最大测试范围和空间分辨率 | 第19-20页 |
| ·分布式偏振耦合测试仪的结构与工作原理 | 第20-21页 |
| ·保偏光纤双折射色散对偏振耦合测试的影响 | 第21-22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 保偏光纤中双折射色散理论 | 第23-38页 |
| ·光纤色散理论 | 第23-25页 |
| ·光纤色散的分类 | 第23-24页 |
| ·光纤色散的表示方法 | 第24-25页 |
| ·单模光纤中的色散系数 | 第25页 |
| ·保偏光纤中的双折射色散 | 第25-27页 |
| ·存在双折射色散时的白光干涉理论模型分析 | 第27-32页 |
| ·色散不均衡对白光干涉的影响 | 第27-29页 |
| ·偏振耦合中存在双折射色散时的白光干涉模型 | 第29-32页 |
| ·双折射色散对偏振耦合测试的影响 | 第32-36页 |
| ·双折射色散对包络和对比度的影响 | 第32-34页 |
| ·双折射色散对仪器空间分辨率的影响 | 第34-35页 |
| ·双折射色散对仪器最大测试距离的影响 | 第35-36页 |
| ·本章小结 | 第36-38页 |
| 第四章 提高偏振耦合测试范围的方案与系统 | 第38-51页 |
| ·光学滤波器偏振耦合测试系统 | 第38-41页 |
| ·系统结构介绍 | 第38-39页 |
| ·系统理论分析 | 第39-41页 |
| ·光开关驱动电路的设计 | 第41-45页 |
| ·迈克耳逊干涉仪色散补偿结构分析 | 第45-50页 |
| ·迈克耳逊色散补偿结构 | 第45-47页 |
| ·色散补偿结构的理论分析 | 第47-48页 |
| ·固定色散介质补偿分析 | 第48-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第五章 实验测试结果及其分析 | 第51-63页 |
| ·关键光学器件性能实验 | 第51-55页 |
| ·宽带SLD 光源光谱与电流特性 | 第51-52页 |
| ·耦合器与光纤起偏器特性测试 | 第52页 |
| ·滤波器光谱测试实验 | 第52-53页 |
| ·光开关性能测试 | 第53-55页 |
| ·光学滤波器结构实验测试 | 第55-61页 |
| ·耦合点不同位置对偏振耦合测试的影响 | 第55-59页 |
| ·不同谱线宽度对偏振耦合测试的影响 | 第59-61页 |
| ·保偏光纤双折射色散的测量 | 第61-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 第六章 总结与展望 | 第63-65页 |
| ·本文完成的主要工作 | 第63-64页 |
| ·后续工作的设想 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-70页 |
| 发表论文和参加科研情况 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71页 |
