基于光栅投影三维测量系统的解相位算法研究与应用
| 摘要 | 第3-4页 |
| abstract | 第4-5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 研究目的与意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-12页 |
| 1.2.1 光栅投影三维测量系统研究现状 | 第9-11页 |
| 1.2.2 解相位算法研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3 研究内容 | 第12页 |
| 1.4 章节安排 | 第12-14页 |
| 第二章 光栅投影三维测量系统 | 第14-26页 |
| 2.1 光栅投影三维测量基本原理 | 第14-16页 |
| 2.2 光栅投影三维测量系统组成 | 第16-18页 |
| 2.2.1 光栅投影设备 | 第16-17页 |
| 2.2.2 图像采集设备 | 第17-18页 |
| 2.2.3 数据处理与控制设备 | 第18页 |
| 2.3 三维轮廓测量方法简介 | 第18-22页 |
| 2.3.1 飞行时间法 | 第20-21页 |
| 2.3.2 傅里叶变换法 | 第21页 |
| 2.3.3 莫尔条纹法 | 第21页 |
| 2.3.4 相移法 | 第21-22页 |
| 2.4 四步相移相位测量原理 | 第22-24页 |
| 2.4.1 正弦光栅的生成 | 第22-23页 |
| 2.4.2 相位主值提取 | 第23-24页 |
| 2.5 本章小结 | 第24-26页 |
| 第三章 解相位算法研究与改进 | 第26-42页 |
| 3.1 解相位算法概述 | 第26-30页 |
| 3.1.1 解相位算法分类 | 第27-28页 |
| 3.1.2 时间解相位算法 | 第28页 |
| 3.1.3 空间解相位算法 | 第28-30页 |
| 3.2 解相位算法研究分析 | 第30-31页 |
| 3.3 解相位算法准确性改进 | 第31-33页 |
| 3.3.1 图像预处理 | 第31-32页 |
| 3.3.2 确定解相起始点 | 第32页 |
| 3.3.3 残差点标记及修复 | 第32-33页 |
| 3.4 解相位算法效率改进 | 第33-41页 |
| 3.4.1 CUDA架构 | 第34-36页 |
| 3.4.2 高质量并行解相位算法基本原理 | 第36-38页 |
| 3.4.3 高质量并行解相位算法流程设计 | 第38-41页 |
| 3.5 本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 高质量并行解相位算法实现与分析 | 第42-56页 |
| 4.1 高质量并行解相位算法具体实现 | 第42-51页 |
| 4.1.1 图像预处理 | 第42-46页 |
| 4.1.2 获取光条中心线 | 第46-47页 |
| 4.1.3 计算包裹相位 | 第47-48页 |
| 4.1.4 标记残差点 | 第48页 |
| 4.1.5 CUDA并行解相位 | 第48-49页 |
| 4.1.6 标记最终残差点 | 第49-50页 |
| 4.1.7 修复残差点得到终相位 | 第50-51页 |
| 4.2 高质量并行解相位算法与其他算法对比 | 第51-55页 |
| 4.2.1 算法效率 | 第51-52页 |
| 4.2.2 算法准确性 | 第52-55页 |
| 4.3 本章小结 | 第55-56页 |
| 第五章 总结与展望 | 第56-58页 |
| 5.1 总结 | 第56页 |
| 5.2 展望 | 第56-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-63页 |
| 攻读学位期间参加科研情况及获得的学术成果 | 第63-64页 |
