中文摘要 | 第3-4页 |
ABSTRACT | 第4页 |
字母注释表 | 第11-13页 |
第一章 绪论 | 第13-19页 |
1.1 课题研究背景及意义 | 第13-14页 |
1.1.1 研究背景 | 第13-14页 |
1.1.2 研究意义 | 第14页 |
1.2 电子产品测试发展历程 | 第14-17页 |
1.2.1 电子测量 | 第14-16页 |
1.2.2 自动测控系统 | 第16-17页 |
1.2.3 智能制造与智能测控系统 | 第17页 |
1.3 主要研究内容及结构安排 | 第17-19页 |
1.3.1 主要研究内容 | 第17页 |
1.3.2 结构安排 | 第17-19页 |
第二章 应力建模分析与测试方法 | 第19-38页 |
2.1 引言 | 第19页 |
2.2 实体建模及有限元分析 | 第19-21页 |
2.2.1 机械建模软件(SolidWorks)简介 | 第19-20页 |
2.2.2 有限元软件(ANSYS)简介 | 第20-21页 |
2.2.3 实体建模 | 第21页 |
2.3 应力与形变测试 | 第21-37页 |
2.3.1 主板形变测试相关概念 | 第21-23页 |
2.3.2 形变测试原理 | 第23-33页 |
2.3.3 形变测试与调整方法 | 第33-37页 |
2.4 本章小结 | 第37-38页 |
第三章 测控系统的硬件设计 | 第38-54页 |
3.1 引言 | 第38页 |
3.2 上电时序及测试项目 | 第38-43页 |
3.3 硬件原理图 | 第43-52页 |
3.3.1 上位机及配置 | 第43-45页 |
3.3.2 下位机硬体与电路图 | 第45-52页 |
3.4 测试点位置及探针寿命 | 第52-53页 |
3.5 本章小结 | 第53-54页 |
第四章 测控系统的软件设计 | 第54-60页 |
4.1 引言 | 第54页 |
4.2 上位机编程 | 第54-58页 |
4.3 下位机编程 | 第58-59页 |
4.4 本章小结 | 第59-60页 |
第五章 实验与结果分析 | 第60-65页 |
5.1 实验台搭建 | 第60页 |
5.2 测试数据分析 | 第60-64页 |
5.2.1 一致性验证 | 第60-61页 |
5.2.2 制程能力分析 | 第61-64页 |
5.3 测控系统经济效益 | 第64页 |
5.4 本章小结 | 第64-65页 |
第六章 结论与展望 | 第65-67页 |
6.1 全文结论 | 第65-66页 |
6.2 未来工作展望 | 第66-67页 |
参考文献 | 第67-71页 |
发表论文和参加科研情况说明 | 第71-72页 |
致谢 | 第72页 |