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基于JTAG的FPGA配置方法与电路设计

摘要第5-7页
ABSTRACT第7-8页
符号对照表第13-14页
缩略语对照表第14-19页
第一章 引言第19-29页
    1.1 FPGA简介第19-22页
        1.1.1 FPGA发展概述第19-20页
        1.1.2 FPGA基本结构第20-21页
        1.1.3 SRAM型FPGA配置第21-22页
    1.2 课题的提出第22-27页
        1.2.1 JTAG背景第22-25页
        1.2.2 国内外研究现状第25-27页
    1.3 全本主要研究内容与章节安排第27-29页
第二章 IEEE 1149.1标准与IEEE 1532标准第29-41页
    2.1 IEEE 1149.1标准第29-35页
        2.1.1 原理第29-31页
        2.1.2 测试访问端口第31页
        2.1.3 TAP控制器第31-33页
        2.1.4 指令寄存器第33-34页
        2.1.5 数据寄存器第34-35页
    2.2 IEEE 1532标准第35-39页
        2.2.1 概述第35-36页
        2.2.2 系统状态转换第36-37页
        2.2.3 指令第37-38页
        2.2.4 数据寄存器第38-39页
    2.3 本章小结第39-41页
第三章 JTAG电路设计与仿真第41-59页
    3.1 电路设计第41-55页
        3.1.1 电路总体框架第41-42页
        3.1.2 测试访问端口第42页
        3.1.3 状态机第42-47页
        3.1.4 指令寄存器第47-49页
        3.1.5 指令集第49-52页
        3.1.6 数据寄存器第52-55页
    3.2 模块仿真验证第55-58页
        3.2.1 TAP控制器功能仿真第55-56页
        3.2.2 ISC状态机功能仿真第56-57页
        3.2.3 指令寄存器功能仿真第57-58页
    3.3 本章小结第58-59页
第四章 敏感性测试系统设计与抗辐照加固第59-73页
    4.1 敏感性测试系统第60-62页
    4.2 模块敏感性仿真第62-70页
        4.2.1 IDCODE仿真第62-64页
        4.2.2 配置功能仿真第64-67页
        4.2.3 边界扫描测试仿真第67-70页
    4.3 加固方法第70-72页
        4.3.1 系统级加固第70-71页
        4.3.2 电路级加固第71页
        4.3.3 版图级加固第71-72页
    4.4 本章小结第72-73页
第五章 仿真验证与板级实测第73-101页
    5.1 功能验证第73-89页
        5.1.1 边界扫描仿真验证第73-79页
        5.1.2 配置仿真验证第79-89页
    5.2 时序验证第89-94页
        5.2.1 JTAG时钟频率验证第90-91页
        5.2.2 TMS、TDI建立时间验证第91-93页
        5.2.3 TMS、TDI保持时间验证第93-94页
    5.3 版图设计第94-96页
        5.3.1 版图设计流程第95页
        5.3.2 JTAG模块版图第95-96页
    5.4 板级实测第96-99页
    5.5 本章总结第99-101页
第六章 总结与展望第101-103页
    6.1 论文工作总结第101页
    6.2 后续工作展望第101-103页
参考文献第103-107页
致谢第107-109页
作者简介第109-110页

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