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DAC芯片抗辐照多电压模式放大器设计

摘要第5-7页
ABSTRACT第7-8页
符号对照表第12-13页
缩略语对照表第13-16页
第一章 绪论第16-22页
    1.1 D/A转换器概述第16-18页
        1.1.1 DAC分类第16页
        1.1.2 R-2R型DAC工作原理第16-18页
    1.2 抗辐照DAC国内外研究现状第18-19页
    1.3 课题研究背景及意义第19-20页
    1.4 论文主要研究内容与安排第20-22页
第二章 辐照效应及运放工作原理第22-36页
    2.1 各类辐照效应及损伤机理第22-23页
    2.2 总剂量辐射效应及其影响第23-29页
        2.2.1 辐射机理第23-25页
        2.2.2 损伤影响第25-27页
        2.2.3 辐照加固措施第27-29页
    2.3 运算放大器简介第29-34页
        2.3.1 运算放大器基本结构与分类第30-31页
        2.3.2 运算放大器性能指标第31-34页
    2.4 本章小结第34-36页
第三章 多电压模式运放电路设计第36-62页
    3.1 运算放大器性能参数设计要求第36-37页
    3.2 运算放大器结构设计要求第37-40页
        3.2.1 基本结构第37-39页
        3.2.2 运放采用结构第39-40页
    3.3 运放输入级设计第40-49页
        3.3.1 差动结构第40-43页
        3.3.2 共源共栅结构第43-47页
        3.3.3 实际输入级结构第47-49页
    3.4 运放中间级与偏置电流镜设计第49-52页
        3.4.1 中间放大级设计第49-50页
        3.4.2 电流镜偏置结构设计第50-52页
    3.5 运放输出级设计第52-54页
    3.6 补偿电路及偏置源设计第54-58页
        3.6.1 频率补偿电路设计第54-56页
        3.6.2 偏置源电路设计第56-58页
    3.7 版图设计第58-59页
    3.8 本章小结第59-62页
第四章 整体电路性能和辐照特性仿真第62-78页
    4.1 仿真要求第62-63页
    4.2 运算放大器电路性能仿真第63-70页
        4.2.1 运放直流特性仿真第63-64页
        4.2.2 运放交流特性仿真第64-67页
        4.2.3 运放瞬态特性仿真第67-70页
        4.2.4 运放静态功耗仿真第70页
    4.3 运算放大器抗辐照研究第70-75页
        4.3.1 LDMOS辐照性能仿真第70-72页
        4.3.2 运放电路辐照性能仿真第72-75页
    4.4 本章小结第75-78页
第五章 总结与展望第78-80页
    5.1 总结第78-79页
    5.2 展望第79-80页
参考文献第80-84页
致谢第84-86页
作者简介第86-87页

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