DAC芯片抗辐照多电压模式放大器设计
| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 符号对照表 | 第12-13页 |
| 缩略语对照表 | 第13-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-22页 |
| 1.1 D/A转换器概述 | 第16-18页 |
| 1.1.1 DAC分类 | 第16页 |
| 1.1.2 R-2R型DAC工作原理 | 第16-18页 |
| 1.2 抗辐照DAC国内外研究现状 | 第18-19页 |
| 1.3 课题研究背景及意义 | 第19-20页 |
| 1.4 论文主要研究内容与安排 | 第20-22页 |
| 第二章 辐照效应及运放工作原理 | 第22-36页 |
| 2.1 各类辐照效应及损伤机理 | 第22-23页 |
| 2.2 总剂量辐射效应及其影响 | 第23-29页 |
| 2.2.1 辐射机理 | 第23-25页 |
| 2.2.2 损伤影响 | 第25-27页 |
| 2.2.3 辐照加固措施 | 第27-29页 |
| 2.3 运算放大器简介 | 第29-34页 |
| 2.3.1 运算放大器基本结构与分类 | 第30-31页 |
| 2.3.2 运算放大器性能指标 | 第31-34页 |
| 2.4 本章小结 | 第34-36页 |
| 第三章 多电压模式运放电路设计 | 第36-62页 |
| 3.1 运算放大器性能参数设计要求 | 第36-37页 |
| 3.2 运算放大器结构设计要求 | 第37-40页 |
| 3.2.1 基本结构 | 第37-39页 |
| 3.2.2 运放采用结构 | 第39-40页 |
| 3.3 运放输入级设计 | 第40-49页 |
| 3.3.1 差动结构 | 第40-43页 |
| 3.3.2 共源共栅结构 | 第43-47页 |
| 3.3.3 实际输入级结构 | 第47-49页 |
| 3.4 运放中间级与偏置电流镜设计 | 第49-52页 |
| 3.4.1 中间放大级设计 | 第49-50页 |
| 3.4.2 电流镜偏置结构设计 | 第50-52页 |
| 3.5 运放输出级设计 | 第52-54页 |
| 3.6 补偿电路及偏置源设计 | 第54-58页 |
| 3.6.1 频率补偿电路设计 | 第54-56页 |
| 3.6.2 偏置源电路设计 | 第56-58页 |
| 3.7 版图设计 | 第58-59页 |
| 3.8 本章小结 | 第59-62页 |
| 第四章 整体电路性能和辐照特性仿真 | 第62-78页 |
| 4.1 仿真要求 | 第62-63页 |
| 4.2 运算放大器电路性能仿真 | 第63-70页 |
| 4.2.1 运放直流特性仿真 | 第63-64页 |
| 4.2.2 运放交流特性仿真 | 第64-67页 |
| 4.2.3 运放瞬态特性仿真 | 第67-70页 |
| 4.2.4 运放静态功耗仿真 | 第70页 |
| 4.3 运算放大器抗辐照研究 | 第70-75页 |
| 4.3.1 LDMOS辐照性能仿真 | 第70-72页 |
| 4.3.2 运放电路辐照性能仿真 | 第72-75页 |
| 4.4 本章小结 | 第75-78页 |
| 第五章 总结与展望 | 第78-80页 |
| 5.1 总结 | 第78-79页 |
| 5.2 展望 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-84页 |
| 致谢 | 第84-86页 |
| 作者简介 | 第86-87页 |
