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低辐射镀膜玻璃的磁控溅射制备及表征

摘要第4-5页
Abstract第5页
第一章 绪论第10-16页
    1.1 引言第10页
    1.2 我国建筑及门窗能耗第10-11页
    1.3 低辐射镀膜玻璃第11-14页
        1.3.1 提出低辐射的意义第11页
        1.3.2 低辐射玻璃的概念第11页
        1.3.3 低辐射玻璃的节能原理第11-12页
        1.3.4 衡量低辐射玻璃的指标第12页
        1.3.5 低辐射玻璃的分类第12-13页
        1.3.6 低辐射玻璃的生产工艺第13-14页
        1.3.7 现状及发展趋势第14页
    1.4 本文的研究内容第14-16页
第二章 实验制备方法及表征技术第16-36页
    2.1 引言第16页
    2.2 直流磁控反应溅射技术镀膜第16-21页
        2.2.1 磁控溅射原理第16-19页
        2.2.2 直流磁控反应溅射第19-20页
        2.2.3 磁控溅射镀膜特点第20-21页
    2.3 磁控溅射制备薄膜的实验材料与设备第21-22页
    2.4 磁控溅射制备薄膜的实验流程第22-26页
        2.4.1 镀膜工艺流程第22-23页
        2.4.2 磁控溅射沉积系统的构成第23-24页
        2.4.3 磁控溅射沉积系统操作步骤第24-26页
    2.5 低辐射镀膜玻璃表征技术第26-32页
        2.5.1 紫外—可见分光光度计(UV—Vis)第26页
        2.5.2 粗糙度测试仪(Taylor-Hobson)第26-27页
        2.5.3 扫描电子显微镜(SEM)第27-28页
        2.5.4 X射线衍射仪(XRD)第28-29页
        2.5.5 能谱仪(EDS)第29页
        2.5.6 傅里叶变换红外光谱仪第29页
        2.5.7 显微硬度计第29-30页
        2.5.8 接触角第30页
        2.5.9 导热系数仪第30-31页
        2.5.10 耐腐蚀性第31-32页
    2.6 低辐射镀膜玻璃制备实验方案第32-34页
    2.7 本章小结第34-36页
第三章 (Al,Ti)N/Ag,Cu/(Al,Ti)N低辐射镀膜玻璃的制备及性能研究第36-58页
    3.1 引言第36页
    3.2 低辐射镀膜玻璃基层介质层工艺参数的确定第36-41页
        3.2.1 样品制备第36-37页
        3.2.2 样品测试与分析第37-41页
        3.2.3 结论第41页
    3.3 低辐射镀膜玻璃功能层参数的确定第41-45页
        3.3.1 样品制备第41-42页
        3.3.2 样品测试与分析第42-44页
        3.3.3 结论第44-45页
    3.4 低辐射镀膜玻璃外层介质层参数的确定第45-58页
        3.4.1 样品制备第45-46页
        3.4.2 样品测试与分析第46-56页
        3.4.3 结论第56-58页
第四章 门窗热工性能及节能效果模拟计算第58-72页
    4.1 门窗热工性能模拟第58-64页
        4.1.1 热工模拟软件介绍第58-61页
        4.1.2 玻璃系统热工模拟第61-63页
        4.1.3 整窗热工模拟第63-64页
    4.2 门窗节能效果模拟第64-71页
        4.2.1 能耗模拟软件介绍第64页
        4.2.2 建筑模型及环境条件第64-66页
        4.2.3 建筑能耗模拟第66-71页
    4.3 本章小结第71-72页
第五章 结论第72-74页
参考文献第74-78页
作者简介第78页
作者在攻读硕士学位期间发表的学术论文第78-80页
致谢第80页

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