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基于MES的IC制造制程变更管理系统的设计与实现

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第10-16页
    1.1 课题研究的背景第10-12页
    1.2 国内外研究现状第12-14页
    1.3 研究内容与论文组织结构第14-15页
    1.4 本章小结第15-16页
第二章 集成电路的发展及其制造工艺的概述第16-36页
    2.1 半导体制造业的发展第16-19页
    2.2 集成电路的设计第19-20页
    2.3 半导体制造流程第20-24页
    2.4 半导体制造工艺关键参数第24-34页
        2.4.1 光刻制程(PHOTO)第25-26页
        2.4.2 蚀刻技术 (ETCH)第26-27页
        2.4.3 化学气象沉积 (CVD)第27-29页
        2.4.4 物理气象沉积 (PVD)第29-30页
        2.4.5 扩散(DIFFUSION)第30-32页
        2.4.6 化学机械研磨(CMP)第32-33页
        2.4.7 离子注入技术 (IMPLANT)第33-34页
    2.5 公司MES目前遇到的问题第34-35页
    2.6 本章小结第35-36页
第三章 系统整合的设计原则与功能需求第36-57页
    3.1 系统整合设计原则与功能需求第36-39页
        3.1.1 系统整合设计原则第36-37页
        3.1.2 系统整合的功能需求第37-39页
    3.2 公司产品的生产流程第39-43页
    3.3 公司MES系统的介绍第43-47页
    3.4 系统整合项目小组的建立第47-48页
    3.5 系统整合的需求分析第48-54页
    3.6 相关技术介绍第54-56页
        3.6.1 Java第54页
        3.6.2 Spring第54页
        3.6.3 Hibernate第54-55页
        3.6.4 Workflow第55-56页
        3.6.5 Freemaker第56页
    3.7 本章小结第56-57页
第四章 系统整合的详细设计与实现第57-71页
    4.1 系统整合的系统结构第57-60页
        4.1.1 与业务系统整合的系统结构第57-59页
        4.1.2 MES整合的系统流程第59-60页
    4.2 MES整合的详细设计与具体实现第60-65页
        4.2.1 总体数据流图第60-61页
        4.2.2 表结构设计第61-63页
        4.2.3 具体实现过程第63-65页
    4.3 整合结果检证第65-70页
    4.4 本章小结第70-71页
第五章 总结与展望第71-73页
    5.1 论文总结第71-72页
    5.2 下一步工作第72-73页
致谢第73-74页
参考文献第74-76页

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