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一种基于多芯片技术的可变增益微波放大器的开发与实现

摘要第5-6页
ABSTRACT第6页
第一章 绪论第9-18页
    1.1 应用背景第9-10页
    1.2 MCM技术现状与发展第10-15页
    1.3 本文主要工作第15-17页
    1.4 本论文的结构安排第17-18页
第二章 基于MCM技术的集成方案设计第18-29页
    2.1 放大器的系统设计方案第18-19页
    2.2 器件选择第19-20页
        2.2.1 低噪声放大器第19页
        2.2.2 数控衰减器第19-20页
    2.3 主要性能指标仿真及分析第20-22页
        2.3.1 增益、驻波、噪声性能仿真及分析第20-22页
        2.3.2 幅相一致性分析第22页
    2.4 MCM物理拓扑结构设计第22-24页
    2.5 集成装配方案第24-27页
    2.6 可测试性设计第27-28页
    2.7 本章小结第28-29页
第三章 自动装配测试技术开发第29-59页
    3.1 自动芯片粘接技术开发第29-40页
        3.1.1 粘接技术概述第29-30页
        3.1.2 导电胶的性能及应用第30-32页
        3.1.3 点胶技术及应用第32-33页
        3.1.4 点胶参数的优化设计第33-35页
        3.1.5 自动贴片系统与工作原理第35-37页
        3.1.6 贴片精度影响因素及控制第37-39页
        3.1.7 贴片精度的测试与验证第39-40页
    3.2 自动丝焊技术开发第40-54页
        3.2.1 丝焊关键技术分析第40-41页
        3.2.2 线弧控制技术第41-46页
        3.2.3 焊点尺寸控制技术第46-51页
        3.2.4 焊点质量控制技术第51-54页
    3.3 自动测试系统的开发第54-58页
        3.3.1 自动测试系统方案设计第54-55页
        3.3.2 测试夹具设计第55-56页
        3.3.3 测试软件设计第56-58页
    3.4 本章小结第58-59页
第四章 试生产测试与分析第59-73页
    4.1 产品性能测试与分析第59-68页
        4.1.1 增益、驻波、相位的测试第59-61页
        4.1.2 噪声测试第61-63页
        4.1.3 衰减特性测试第63-68页
    4.2 可靠性验证与分析第68-70页
    4.3 自动装配与自动测试系统性能第70-72页
        4.3.1 质量水平第70-71页
        4.3.2 生产效率第71-72页
    4.4 本章小结第72-73页
第五章 结论第73-75页
    5.1 本文的主要贡献第73页
    5.2 下一步工作的展望第73-75页
致谢第75-76页
参考文献第76-79页
攻硕期间取得的研究成果第79-80页

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