短时高过载永磁电机热可靠性研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-17页 |
| 1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第8页 |
| 1.2 电机可靠性的研究现状 | 第8-15页 |
| 1.2.1 失效机理研究 | 第9-10页 |
| 1.2.2 可靠性分析方法 | 第10-12页 |
| 1.2.3 可靠性模型研究 | 第12-14页 |
| 1.2.4 电机的可靠性实验 | 第14-15页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第15-17页 |
| 第2章 短时高过载电机可靠性模型研究 | 第17-29页 |
| 2.1 引言 | 第17页 |
| 2.2 短时高过载电机的可靠性分析 | 第17-26页 |
| 2.2.1 短时高过载电机永磁体可靠性分析 | 第19-20页 |
| 2.2.2 短时高过载电机绕组可靠性分析 | 第20-21页 |
| 2.2.3 电机可靠性的 FMECA 分析 | 第21-23页 |
| 2.2.4 电机可靠性的故障树分析 | 第23-25页 |
| 2.2.5 电机可靠性的分配 | 第25-26页 |
| 2.3 电机的可靠性串联模型及评价指标 | 第26-28页 |
| 2.3.1 可靠性串联模型 | 第26-27页 |
| 2.3.2 可靠性的评价指标 | 第27-28页 |
| 2.4 本章小结 | 第28-29页 |
| 第3章 电机绕组绝缘可靠性研究 | 第29-42页 |
| 3.1 引言 | 第29页 |
| 3.2 绝缘材料的可靠性模型 | 第29-31页 |
| 3.2.1 绕组绝缘可靠性模型 | 第29页 |
| 3.2.2 恒温下绕组绝缘的可靠性 | 第29-31页 |
| 3.3 线圈绝缘材料的寿命实验 | 第31-34页 |
| 3.3.1 绕组绝缘可靠性试验 | 第32-33页 |
| 3.3.2 过载条件下线圈绝缘热老化试验 | 第33-34页 |
| 3.4 寿命数据分析及可靠度计算 | 第34-41页 |
| 3.4.1 线圈失效时的数据分析 | 第35-36页 |
| 3.4.2 对数正态分布下绕组绝缘的可靠性 | 第36-38页 |
| 3.4.3 威布尔分布下绕组绝缘的可靠性 | 第38-40页 |
| 3.4.4 对两种估计的 2拟合优度检验 | 第40-41页 |
| 3.5 本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 电机永磁体的可靠性研究 | 第42-51页 |
| 4.1 引言 | 第42页 |
| 4.2 高温下永磁体的失磁规律 | 第42-43页 |
| 4.3 电机最大去磁工作点校核 | 第43-45页 |
| 4.4 高温下永磁体可靠性实验 | 第45-50页 |
| 4.4.1 永磁体可靠性试验的设计 | 第46-47页 |
| 4.4.2 永磁体加热实验过程 | 第47页 |
| 4.4.3 永磁体温度实验结果及分析 | 第47-50页 |
| 4.5 本章小结 | 第50-51页 |
| 第5章 短时高过载电机可靠性设计 | 第51-67页 |
| 5.1 引言 | 第51页 |
| 5.2 电机可靠性的一体化设计 | 第51-55页 |
| 5.2.1 电机的基本参数及性能指标 | 第52-54页 |
| 5.2.2 电机的温度场仿真及温升规律 | 第54-55页 |
| 5.3 电机可靠度的计算 | 第55-57页 |
| 5.3.1 电机绕组的可靠度计算 | 第55页 |
| 5.3.2 电机的可靠度计算 | 第55-57页 |
| 5.4 电机可靠性的影响因素分析 | 第57-59页 |
| 5.4.1 电机极槽数对电机可靠性的影响 | 第57-58页 |
| 5.4.2 永磁体厚度对电机可靠性的影响 | 第58-59页 |
| 5.4.3 绕组绝缘对电机可靠性的影响 | 第59页 |
| 5.5 电机可靠性相关实验 | 第59-66页 |
| 5.5.1 电机的基本性能测试 | 第59-61页 |
| 5.5.2 电机温升测试及可靠性分析 | 第61-65页 |
| 5.5.3 电机可靠性的优化结果分析 | 第65-66页 |
| 5.6 本章小结 | 第66-67页 |
| 结论 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-73页 |
| 致谢 | 第73页 |
