| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 研究现状及发展趋势 | 第9-10页 |
| 1.3 问题提出 | 第10-11页 |
| 1.4 本文研究内容 | 第11-12页 |
| 1.5 技术路线 | 第12-14页 |
| 第2章 相关研究综述 | 第14-20页 |
| 2.1 技术风险识别研究 | 第14-16页 |
| 2.1.1 风险与风险分类 | 第14-15页 |
| 2.1.2 风险识别与分类 | 第15-16页 |
| 2.2 蒙特卡罗故障树研究 | 第16-18页 |
| 2.3 参数化分析研究 | 第18-20页 |
| 第3章 改进的开发技术风险参数化识别模型 | 第20-36页 |
| 3.1 产品开发技术风险识别模型要求 | 第20页 |
| 3.2 改进的蒙特卡罗故障树 | 第20-28页 |
| 3.2.1 蒙特卡罗计算 | 第20-22页 |
| 3.2.2 蒙特卡罗方法的特点和误差 | 第22页 |
| 3.2.3 故障树结构函数与模型 | 第22-23页 |
| 3.2.4 故障树的可视化表达 | 第23-24页 |
| 3.2.5 故障树定性分析 | 第24-26页 |
| 3.2.6 故障树的定量分析 | 第26-27页 |
| 3.2.7 蒙特卡罗故障树具体实施 | 第27-28页 |
| 3.3 关键底事件的参数化分析 | 第28-30页 |
| 3.3.1 关键底事件定义 | 第28页 |
| 3.3.2 关键底事件因素分析 | 第28-30页 |
| 3.4 产品开发大概率风险识别方法 | 第30-36页 |
| 第4章 产品研发风险识别实例应用 | 第36-52页 |
| 4.1 产品开发的技术风险管理 | 第36-37页 |
| 4.1.1 产品开发基本要求 | 第36页 |
| 4.1.2 产品开发的技术风险识别分类 | 第36-37页 |
| 4.1.3 两类大概率风险发现和处理 | 第37页 |
| 4.2 基于蒙特卡罗模拟方法的产品气隙公差计算 | 第37-46页 |
| 4.2.1 产品尺寸链绘制 | 第38-39页 |
| 4.2.2 产品尺寸链组成环和封闭环的函数关系确定 | 第39页 |
| 4.2.3 基于Minitab的封闭环尺寸公差计算过程 | 第39-45页 |
| 4.2.4 蒙特卡罗模拟方法的计算精度分析 | 第45-46页 |
| 4.3 基于蒙特卡罗模拟方法的产品潜在功能失效风险分析 | 第46-50页 |
| 4.3.1 产品故障树绘制 | 第46-47页 |
| 4.3.2 产品故障树最小割集求解 | 第47页 |
| 4.3.3 产品功能失效概率计算 | 第47-49页 |
| 4.3.4 产品可靠性参数计算 | 第49-50页 |
| 4.4 关键底事件函数化分析影响因子设计 | 第50-51页 |
| 4.5 本章小结 | 第51-52页 |
| 第5章 结论与展望 | 第52-58页 |
| 5.1 模型价值评价 | 第53-54页 |
| 5.2 因素功能函数评价 | 第54页 |
| 5.3 结论 | 第54-55页 |
| 5.4 展望 | 第55-58页 |
| 参考文献 | 第58-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
