液冷计算机污染度控制研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第10-11页 |
| 缩略语对照表 | 第11-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-29页 |
| 1.1 本文研究背景及意义 | 第15-21页 |
| 1.1.1. 温度对加固计算机的影响 | 第15-17页 |
| 1.1.2. 冷却方式 | 第17页 |
| 1.1.3. 液冷计算机系统 | 第17-21页 |
| 1.2 污染物对液冷计算机的危害 | 第21-23页 |
| 1.2.1 水分污染的危害方式 | 第21页 |
| 1.2.2 空气污染的危害方式 | 第21-22页 |
| 1.2.3 微生物污染的危害 | 第22页 |
| 1.2.4 颗粒污染的危害方式 | 第22-23页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第23-26页 |
| 1.3.1 国外研究状况 | 第23-24页 |
| 1.3.2 国内研究情况 | 第24-26页 |
| 1.3.3 国内外研究对比 | 第26页 |
| 1.4 研究内容 | 第26-29页 |
| 第二章 液冷计算机污染度控制的理论基础 | 第29-39页 |
| 2.1 污染度控制的理论基础 | 第29-33页 |
| 2.1.1 摩擦机理 | 第29页 |
| 2.1.2 磨损 | 第29-31页 |
| 2.1.3 液冷计算机污染物 | 第31-32页 |
| 2.1.4 污染度控制理论依据 | 第32-33页 |
| 2.2 固体污染度分级 | 第33-34页 |
| 2.2.1 固体污染度分级表 | 第33页 |
| 2.2.2 固体污染度等级的确定原则 | 第33页 |
| 2.2.3 固体污染度等级表示方法 | 第33-34页 |
| 2.3 液冷计算机全寿命周期 | 第34-35页 |
| 2.3.1 全寿命周期的划分 | 第34页 |
| 2.3.2 设计阶段 | 第34页 |
| 2.3.3 制造阶段 | 第34-35页 |
| 2.3.4 使用维护阶段 | 第35页 |
| 2.4 过滤器 | 第35-38页 |
| 2.4.1 过滤器的基础知识 | 第35-37页 |
| 2.4.2 过滤器的主要参数 | 第37-38页 |
| 2.5 本章小结 | 第38-39页 |
| 第三章 液冷计算机污染度控制 | 第39-53页 |
| 3.1 液冷计算机污染度控制的总体要求 | 第39-40页 |
| 3.1.1 设计阶段 | 第39页 |
| 3.1.2 制造阶段 | 第39-40页 |
| 3.1.3 使用维护阶段 | 第40页 |
| 3.2 液冷计算机污染度控制 | 第40-51页 |
| 3.2.1 设计阶段 | 第40-45页 |
| 3.2.2 制造阶段 | 第45-47页 |
| 3.2.3 使用维护阶段 | 第47-51页 |
| 3.3 液冷计算机污染度控制结果 | 第51页 |
| 3.4 本章小结 | 第51-53页 |
| 第四章 液冷计算机污染度运行规律 | 第53-65页 |
| 4.1 液冷计算机污染度运行规律 | 第53-55页 |
| 4.1.1 早发期 | 第54-55页 |
| 4.1.2 平稳期 | 第55页 |
| 4.1.3 衰退期 | 第55页 |
| 4.2 污染度测试 | 第55-63页 |
| 4.2.1 自动颗粒计数法 | 第55-60页 |
| 4.2.2 液冷计算机污染度检测方法 | 第60-63页 |
| 4.3 不同阶段的污染度控制要求 | 第63-64页 |
| 4.3.1 早发期 | 第63页 |
| 4.3.2 稳定期 | 第63-64页 |
| 4.3.3 衰退期 | 第64页 |
| 4.4 本章小结 | 第64-65页 |
| 第五章 总结和展望 | 第65-67页 |
| 5.1 本文总结 | 第65-66页 |
| 5.2 未来工作与展望 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-69页 |
| 致谢 | 第69-71页 |
| 作者简介 | 第71-73页 |
