用于硅片几何参数检测的嵌入式图像处理系统研究
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 研究背景 | 第8-9页 |
| 1.2 研究的目的和意义 | 第9-10页 |
| 1.3 国内外的研究现状 | 第10-11页 |
| 1.4 主要研究内容 | 第11-12页 |
| 1.5 章节结构安排 | 第12-13页 |
| 2 嵌入式图像处理系统总体方案设计 | 第13-23页 |
| 2.1 系统设计技术指标 | 第13页 |
| 2.2 嵌入式图像处理系统架构 | 第13-14页 |
| 2.3 嵌入式图像处理系统总体方案设计 | 第14-21页 |
| 2.3.1 系统核心控制模块 | 第14-15页 |
| 2.3.2 图像采集模块 | 第15-18页 |
| 2.3.3 图像存储模块 | 第18-19页 |
| 2.3.4 图像传输模块 | 第19-21页 |
| 2.4 嵌入式图像处理系统总体方案实现 | 第21-22页 |
| 2.5 本章小结 | 第22-23页 |
| 3 嵌入式图像处理系统的硬件设计与实现 | 第23-34页 |
| 3.1 嵌入式图像处理系统的硬件框图设计 | 第23页 |
| 3.2 嵌入式图像处理系统的原理图设计 | 第23-32页 |
| 3.2.1 MT9M001原理图设计 | 第23-25页 |
| 3.2.2 DM9000A图像传输模块原理图设计 | 第25-28页 |
| 3.2.3 SDRAM存储模块原理图设计 | 第28-29页 |
| 3.2.4 FLASH配置模块原理图设计 | 第29-30页 |
| 3.2.5 电源模块设计 | 第30-32页 |
| 3.3 硬件系统的PCB实现 | 第32-33页 |
| 3.4 本章小结 | 第33-34页 |
| 4 硅片几何参数检测算法设计 | 第34-44页 |
| 4.1 硅片几何参数检测算法的设计 | 第34-41页 |
| 4.1.1 硅片的灰度化和二值化处理 | 第35-37页 |
| 4.1.2 硅片的滤波处理 | 第37-38页 |
| 4.1.3 硅片的轮廓提取与轮廓跟踪处理 | 第38页 |
| 4.1.4 硅片的几何参数检测 | 第38-41页 |
| 4.2 硅片几何参数检测的系统标定 | 第41-43页 |
| 4.3 本章小结 | 第43-44页 |
| 5 系统性能测试与硅片参数检测算法的FPGA实现 | 第44-66页 |
| 5.1 硬件系统的调试 | 第44-45页 |
| 5.2 嵌入式图像处理系统的的测试 | 第45-58页 |
| 5.2.1 图像采集模块 | 第45-48页 |
| 5.2.2 图像存储模块 | 第48-53页 |
| 5.2.3 图像传输模块 | 第53-56页 |
| 5.2.4 嵌入式图像处理系统级联测试 | 第56-58页 |
| 5.3 嵌入式图像处理算法的实现 | 第58-64页 |
| 5.4 误差分析 | 第64-65页 |
| 5.5 本章小结 | 第65-66页 |
| 6 结论与展望 | 第66-68页 |
| 6.1 结论 | 第66页 |
| 6.2 展望 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-71页 |
| 致谢 | 第71-73页 |
