| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第11-12页 |
| 缩略语对照表 | 第12-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-20页 |
| 1.1 研究背景 | 第16-17页 |
| 1.2 研究现状与发展趋势 | 第17-18页 |
| 1.3 本文工作 | 第18-19页 |
| 1.4 章节安排 | 第19-20页 |
| 第二章 DC-DC变换器基本原理分析 | 第20-38页 |
| 2.1 DC-DC变换器的工作原理 | 第20-32页 |
| 2.1.1 Buck型DC-DC的工作原理 | 第20-27页 |
| 2.1.2 Boost型DC-DC的工作原理 | 第27-31页 |
| 2.1.3 Buck-Boost型DC-DC的工作原理 | 第31-32页 |
| 2.2 芯片工作模式的选取 | 第32-37页 |
| 2.2.1 调制方式的分类 | 第33-34页 |
| 2.2.2 控制模式的分类 | 第34-37页 |
| 2.3 本章小结 | 第37-38页 |
| 第三章 XD1780的系统设计及稳定性分析 | 第38-48页 |
| 3.1 芯片的特性 | 第38-39页 |
| 3.1.1 芯片的功能 | 第38页 |
| 3.1.2 芯片的主要特性 | 第38页 |
| 3.1.3 芯片引脚功能介绍 | 第38-39页 |
| 3.2 芯片的整体架构设计 | 第39-44页 |
| 3.2.1 芯片架构图设计 | 第39-42页 |
| 3.2.2 芯片参数指标的选取 | 第42-44页 |
| 3.3 芯片外围器件的选择 | 第44-45页 |
| 3.4 系统稳定性分析 | 第45-47页 |
| 3.5 本章小结 | 第47-48页 |
| 第四章 XD1780子模块电路的分析与设计 | 第48-68页 |
| 4.1 电压基准模块（VREF） | 第48-52页 |
| 4.1.1 带隙电压基准的工作原理 | 第48-50页 |
| 4.1.2 电压基准源的分析与设计 | 第50-51页 |
| 4.1.3 仿真验证及结果分析 | 第51-52页 |
| 4.2 使能模块（EN） | 第52-54页 |
| 4.2.1 使能电路的分析与设计 | 第53-54页 |
| 4.2.2 仿真验证及结果分析 | 第54页 |
| 4.3 欠压锁存模块（UVLO） | 第54-56页 |
| 4.3.1 欠压锁存电路的分析与设计 | 第54-55页 |
| 4.3.2 迟滞量的产生 | 第55-56页 |
| 4.3.3 仿真验证及结果分析 | 第56页 |
| 4.4 纹波补偿模块（RIPPLE_COMPENSATION） | 第56-62页 |
| 4.4.1 传统的片外纹波补偿方式 | 第56-57页 |
| 4.4.2 片内纹波补偿电路的分析与设计 | 第57-61页 |
| 4.4.3 仿真验证及结果分析 | 第61-62页 |
| 4.5 最小关断时间模块（TOFF_MIN） | 第62-64页 |
| 4.5.1 最小关断时间电路的分析与设计 | 第62-63页 |
| 4.5.2 仿真验证及结果分析 | 第63-64页 |
| 4.6 过温保护模块（OTP） | 第64-66页 |
| 4.6.1 过温保护电路的分析与设计 | 第64-66页 |
| 4.6.2 仿真验证及结果分析 | 第66页 |
| 4.7 本章小结 | 第66-68页 |
| 第五章 芯片的整体仿真和版图布局 | 第68-74页 |
| 5.1 输出波形仿真 | 第68-69页 |
| 5.1.1 芯片在 3A负载情况下的输出波形 | 第68-69页 |
| 5.1.2 芯片在 1A负载情况下的输出波形 | 第69页 |
| 5.2 瞬态响应仿真 | 第69-70页 |
| 5.3 输出电压线性调整率仿真 | 第70-71页 |
| 5.4 系统效率仿真 | 第71-72页 |
| 5.5 芯片的版图布局 | 第72-73页 |
| 5.6 本章小结 | 第73-74页 |
| 第六章 总结与展望 | 第74-76页 |
| 6.1 总结 | 第74页 |
| 6.2 展望 | 第74-76页 |
| 参考文献 | 第76-80页 |
| 致谢 | 第80-82页 |
| 作者简介 | 第82-83页 |