数控系统可靠性研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 数控系统可靠性研究的意义 | 第9-10页 |
| 1.2 数控系统可靠性研究与发展状况 | 第10-15页 |
| 1.2.1 国外相关研究概况 | 第11-12页 |
| 1.2.2 国内发展概况 | 第12-15页 |
| 第二章 数控系统可靠性 | 第15-21页 |
| 2.1 可靠性概念 | 第15-16页 |
| 2.2 数控系统可靠性定义 | 第16页 |
| 2.3 数控系统可靠性指标 | 第16-19页 |
| 2.3.1 概率型指标 | 第17页 |
| 2.3.2 性能型指标 | 第17-18页 |
| 2.3.3 寿命型指标 | 第18-19页 |
| 2.4 数控系统的失效模式分析 | 第19-21页 |
| 第三章 现有的可靠性评估方法 | 第21-27页 |
| 3.1 图参数评估法 | 第21页 |
| 3.2 解析方法 | 第21-27页 |
| 3.2.1 矩法 | 第21-22页 |
| 3.2.2 极大似然法 | 第22页 |
| 3.2.3 贝叶斯法 | 第22-27页 |
| 第四章 华中8型数控系统可靠性测试 | 第27-45页 |
| 4.1 背景 | 第27页 |
| 4.2 测试依据 | 第27页 |
| 4.3 样本选取 | 第27-28页 |
| 4.4 测试方案 | 第28-29页 |
| 4.4.1 方案选择 | 第28-29页 |
| 4.5 定时测试方案 | 第29-30页 |
| 4.5.1 具体内容 | 第29-30页 |
| 4.5.2 定时测试置信区间估计 | 第30页 |
| 4.6 简便测试方案 | 第30-32页 |
| 4.7 测试条件概述 | 第32-33页 |
| 4.8 测试条件 | 第33-35页 |
| 4.9 测试流程 | 第35-36页 |
| 4.10 测试的加工程序 | 第36-37页 |
| 4.11 状态监测 | 第37-38页 |
| 4.12 原则 | 第38-39页 |
| 4.13 关联故障 | 第39页 |
| 4.14 非关联故障 | 第39页 |
| 4.15 有替换测试故障处理 | 第39-40页 |
| 4.16 测试目的 | 第40页 |
| 4.17 测试对象 | 第40-41页 |
| 4.18 测试结果 | 第41-42页 |
| 4.19 测试结论 | 第42页 |
| 4.20 总结与说明 | 第42-45页 |
| 第五章 结论 | 第45-47页 |
| 参考文献 | 第47-51页 |
| 攻读硕士期间已发表的论文 | 第51-53页 |
| 致谢 | 第53页 |
