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高速高精度数据转换器测试验证系统设计与实现

摘要第5-6页
Abstract第6页
缩略词表第12-13页
第1章 绪论第13-19页
    1.1 研究背景第13页
    1.2 设计目标及难点第13-14页
    1.3 国内外研究现状第14-17页
    1.4 论文组织结构第17-19页
第2章 数据转换器测试理论第19-33页
    2.1 ADC指标参数定义第19-22页
    2.2 高速高分辨率ADC测试算法第22-27页
    2.3 DAC指标参数定义第27-29页
    2.4 高速高分辨率DAC测试算法第29-31页
    2.5 本章小结第31-33页
第3章 数据转换器测试验证系统构架第33-39页
    3.1 ADC测试系统构成第33-34页
    3.2 ADC测试场景设计第34-35页
    3.3 DAC测试平台构成第35-36页
    3.4 DAC测试场景设计第36-37页
    3.5 测试设备第37-38页
    3.6 本章小结第38-39页
第4章 测试设备的集中控制第39-49页
    4.1 概述第39页
    4.2 GPIB总线系统第39-40页
    4.3 基于GPIB的自动测试系统第40-44页
    4.4 GPIB仪器控制编程举例第44-47页
    4.5 本章小结第47-49页
第5章 高速数据处理平台设计第49-69页
    5.1 高速数据处理平台构架第49-51页
    5.2 数据处理和通信控制模块的接口设计第51-54页
    5.3 通信控制模块设计第54-59页
    5.4 ADC数据处理模块第59-64页
    5.5 DAC数据处理模块第64-68页
    5.6 本章小结第68-69页
第6章 数据转换器测试系统软件设计第69-85页
    6.1 开发环境第69页
    6.2 软件功能第69-71页
    6.3 ADC测试界面第71-79页
    6.4 DAC测试界面第79-83页
    6.5 工作流程第83-84页
    6.6 本章小结第84-85页
第7章 系统测试第85-97页
    7.1 AD9268测试第85-89页
    7.2 ADC 12D1800测试第89-91页
    7.3 AD9739测试第91-95页
    7.4 AD9959测试第95-96页
    7.5 本章小结第96-97页
第8章 总结与展望第97-99页
    8.1 总结第97-98页
    8.2 展望第98-99页
致谢第99-101页
参考文献第101-103页

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