致谢 | 第4-6页 |
摘要 | 第6-7页 |
Abstract | 第7页 |
1. 引言 | 第11-15页 |
1.1. 本文研究的背景 | 第11页 |
1.2. 国内外的研究现状 | 第11-12页 |
1.3. 本文的主要工作 | 第12-13页 |
1.4. 本课题的意义 | 第13页 |
1.5. 本文章节安排 | 第13-15页 |
2. 低功耗设计技术 | 第15-21页 |
2.1. 功耗概述 | 第15-16页 |
2.2. 低功耗技术方法 | 第16-20页 |
2.2.1. 降低供电电压 | 第16-17页 |
2.2.2. 插入时钟门控 | 第17-18页 |
2.2.3. 采用多阈值的单元 | 第18页 |
2.2.4. 采用多电压设计 | 第18-19页 |
2.2.5. 采用电源开关设计 | 第19页 |
2.2.6. 动态电压频率调整设计 | 第19-20页 |
2.3. 本章小结 | 第20-21页 |
3. 时钟调度管理理论分析 | 第21-32页 |
3.1. 多计算单元资源竞争问题概述 | 第21-23页 |
3.2. 优化原理及流程 | 第23-25页 |
3.3. 模型建立及假设 | 第25-28页 |
3.4. 竞争分析及频率优化 | 第28-30页 |
3.5. 多计算单元的优化 | 第30-31页 |
3.6. 本章小结 | 第31-32页 |
4. 时钟调度管理硬件设计 | 第32-43页 |
4.1. 时钟调度系统硬件基本架构设计 | 第32-33页 |
4.2. 时钟管理模块 | 第33-39页 |
4.2.1. 时钟生成模块 | 第34-37页 |
4.2.2. 功耗管理模块 | 第37-39页 |
4.3. 时钟调度管理软硬件操作 | 第39-42页 |
4.3.1. 单次任务周期内软硬件操作 | 第40-41页 |
4.3.2. 连续任务周期软硬件操作 | 第41-42页 |
4.4. 本章小结 | 第42-43页 |
5. 测试系统架构 | 第43-47页 |
5.1. 测试系统总体架构 | 第43页 |
5.2. 测试系统主要子模块 | 第43-46页 |
5.2.1. 嵌入式处理器 | 第43-44页 |
5.2.2. 片上总线 | 第44-45页 |
5.2.3. DMA | 第45-46页 |
5.2.4. 时钟生成器 | 第46页 |
5.3. 本章小结 | 第46-47页 |
6. 测试系统实现及功耗测试 | 第47-59页 |
6.1. 测试系统集成 | 第47-52页 |
6.1.1. 开发平台工具各部分介绍 | 第47-49页 |
6.1.2. 基于IP-XACT标准的时钟管理模块封装 | 第49-52页 |
6.2. 功耗测试平台 | 第52-57页 |
6.2.1. SAIF文件概述 | 第53页 |
6.2.2. SAIF文件生成 | 第53-56页 |
6.2.3. SAIF文件反标 | 第56页 |
6.2.4. 功耗分析 | 第56-57页 |
6.3. 本章小结 | 第57-59页 |
7. 实验结果分析 | 第59-65页 |
7.1. 实验背景 | 第59页 |
7.2. 实验结果 | 第59-63页 |
7.2.1. 实验一结果及分析 | 第59-60页 |
7.2.2. 实验二结果及分析 | 第60-62页 |
7.2.3. 实验三结果及分析 | 第62-63页 |
7.3. 实验总结 | 第63-64页 |
7.4 本章小结 | 第64-65页 |
8. 总结与展望 | 第65-67页 |
8.1. 论文研究工作总结 | 第65-66页 |
8.2. 未来展望 | 第66-67页 |
参考文献 | 第67-71页 |
作者简历及在学习期间取得的科研成果 | 第71页 |