| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-24页 |
| 1.1 选题的意义 | 第11页 |
| 1.2 光纤干涉仪概述 | 第11-13页 |
| 1.2.1 光纤F-P干涉仪 | 第11-12页 |
| 1.2.2 光纤Sagnac干涉仪 | 第12页 |
| 1.2.3 光纤Mach-Zehnder干涉仪 | 第12-13页 |
| 1.2.4 光纤Michelson干涉仪 | 第13页 |
| 1.3 干涉条纹移动量检测方法概述 | 第13-20页 |
| 1.3.1 条纹中心线法 | 第14-18页 |
| 1.3.2 全灰度法 | 第18-20页 |
| 1.4 PSD研究发展历史、应用领域简述 | 第20-23页 |
| 1.4.1 PSD研究发展历史 | 第20-21页 |
| 1.4.2 PSD应用简述 | 第21-23页 |
| 1.5 本文主要研究内容 | 第23-24页 |
| 第2章 干涉条纹质心法的理论分析与仿真 | 第24-38页 |
| 2.1 干涉条纹质心法检测原理 | 第24页 |
| 2.2 M-Z干涉仪干涉条纹质心位置的理论分析与仿真 | 第24-27页 |
| 2.2.1 N的定义 | 第25页 |
| 2.2.2 质心位置与初始相位差的关系 | 第25-26页 |
| 2.2.3 对比度对干涉条纹质心位置的影响 | 第26-27页 |
| 2.3 单模光纤M-Z干涉仪干涉条纹质心位置的分析与仿真 | 第27-31页 |
| 2.3.1 光纤M-Z干涉仪干涉场 | 第27-28页 |
| 2.3.2 X轴向干涉条纹质心位置与初始相位差的关系 | 第28页 |
| 2.3.3 观察屏在X轴向移动时干涉条纹的质心位置 | 第28-31页 |
| 2.4 多模光纤M-Z干涉仪干涉条纹质心位置的分析与仿真 | 第31-35页 |
| 2.4.1 光纤M-Z干涉仪干涉场 | 第31-32页 |
| 2.4.2 X轴向干涉条纹质心位置与初始相位差的关系 | 第32-33页 |
| 2.4.3 X轴向Z值对质心位置的影响 | 第33页 |
| 2.4.4 观察屏在X轴向移动时干涉条纹的质心位置 | 第33-35页 |
| 2.5 本章小结 | 第35-38页 |
| 第3章 PSD对干涉仪干涉条纹的识别研究 | 第38-45页 |
| 3.1 PSD与其他光电探测器的比较 | 第38-39页 |
| 3.2 PSD的结构和工作原理 | 第39-42页 |
| 3.3 PSD探测干涉条纹的基本理论与仿真 | 第42-44页 |
| 3.4 本章小结 | 第44-45页 |
| 第4章 消除PSD背景光干扰的新方法 | 第45-53页 |
| 4.1 光子晶体概述 | 第45-46页 |
| 4.2 缺陷型正负交替一维光子晶体滤波器 | 第46-52页 |
| 4.2.1 负折射率介质简介 | 第46-47页 |
| 4.2.2 结构模型 | 第47页 |
| 4.2.3 理论基础 | 第47-48页 |
| 4.2.4 滤波器的参数设计 | 第48-52页 |
| 4.3 本章小结 | 第52-53页 |
| 第5章 实验 | 第53-64页 |
| 5.1 单模光纤M-Z空间干涉仪干涉条纹移动量检测实验 | 第53-61页 |
| 5.1.1 实验装置 | 第53页 |
| 5.1.2 主要器件性能及参数指标 | 第53-56页 |
| 5.1.3 实验结果和分析 | 第56-61页 |
| 5.2 系统的误差来源 | 第61-63页 |
| 5.2.1 PSD暗电流和环境光的影响 | 第61-62页 |
| 5.2.2 光线偏移量方向与PSD轴线不平行的影响 | 第62-63页 |
| 5.2.3 总的系统误差 | 第63页 |
| 5.3 本章小结 | 第63-64页 |
| 第6章 结论与展望 | 第64-66页 |
| 6.1 研究总结 | 第64-65页 |
| 6.2 改进与展望 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 致谢 | 第70页 |
