摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
第1章 绪论 | 第8-17页 |
1.1 研究背景及意义 | 第8-10页 |
1.1.1 研究背景 | 第8-9页 |
1.1.2 研究目的及意义 | 第9-10页 |
1.2 故障注入技术的研究现状 | 第10-15页 |
1.2.1 故障注入技术的发展历程 | 第11-12页 |
1.2.2 国内外在该领域的研究现状 | 第12-14页 |
1.2.3 故障注入的方法选择及发展方向 | 第14-15页 |
1.3 本文主要研究内容及组织结构 | 第15-17页 |
第2章 数字集成电路故障的研究及模型建立 | 第17-35页 |
2.1 引言 | 第17-18页 |
2.2 故障模型的建立及验证 | 第18-34页 |
2.2.1 固定型故障模型 | 第19-22页 |
2.2.2 翻转型故障模型 | 第22-24页 |
2.2.3 延迟型故障模型 | 第24-26页 |
2.2.4 桥接型故障模型 | 第26-31页 |
2.2.5 间歇型故障模型 | 第31-34页 |
2.3 本章小结 | 第34-35页 |
第3章 数字集成电路故障注入平台的需求分析 | 第35-41页 |
3.1 故障注入原理及故障注入工具设计目标 | 第35-36页 |
3.2 故障注入平台设计的需求分析 | 第36-40页 |
3.2.1 平台整体架构分析 | 第37-38页 |
3.2.2 平台软件部分需求分析 | 第38-39页 |
3.2.3 平台硬件部分需求分析 | 第39-40页 |
3.3 本章小结 | 第40-41页 |
第4章 故障注入平台硬件设计 | 第41-51页 |
4.1 引言 | 第41页 |
4.2 Genesys Virtex-5 开发板简介 | 第41-42页 |
4.3 故障时钟设计 | 第42-45页 |
4.4 串口通讯设计 | 第45-49页 |
4.4.1 故障信息序列生成协议 | 第45页 |
4.4.2 RS232 串口设计 | 第45-49页 |
4.5 故障管理器设计 | 第49-50页 |
4.6 本章小结 | 第50-51页 |
第5章 故障注入平台软件设计及使用介绍 | 第51-59页 |
5.1 引言 | 第51页 |
5.2 故障注入器软件设计 | 第51-53页 |
5.3 故障参数选择器软件设计 | 第53-55页 |
5.3.1 故障地址选择 | 第54页 |
5.3.2 故障模型参数选择 | 第54-55页 |
5.4 用户界面设计及平台使用流程 | 第55-58页 |
5.5 本章小结 | 第58-59页 |
第6章 数字集成电路故障注入平台实验验证 | 第59-69页 |
6.1 引言 | 第59页 |
6.2 仿真验证及分析 | 第59-62页 |
6.3 板级验证及分析 | 第62-67页 |
6.4 本章小结 | 第67-69页 |
结论 | 第69-70页 |
参考文献 | 第70-77页 |
攻读学位期间发表的学术论文 | 第77-79页 |
致谢 | 第79-80页 |