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数字集成电路故障模型研究及故障注入平台设计

摘要第4-5页
Abstract第5页
第1章 绪论第8-17页
    1.1 研究背景及意义第8-10页
        1.1.1 研究背景第8-9页
        1.1.2 研究目的及意义第9-10页
    1.2 故障注入技术的研究现状第10-15页
        1.2.1 故障注入技术的发展历程第11-12页
        1.2.2 国内外在该领域的研究现状第12-14页
        1.2.3 故障注入的方法选择及发展方向第14-15页
    1.3 本文主要研究内容及组织结构第15-17页
第2章 数字集成电路故障的研究及模型建立第17-35页
    2.1 引言第17-18页
    2.2 故障模型的建立及验证第18-34页
        2.2.1 固定型故障模型第19-22页
        2.2.2 翻转型故障模型第22-24页
        2.2.3 延迟型故障模型第24-26页
        2.2.4 桥接型故障模型第26-31页
        2.2.5 间歇型故障模型第31-34页
    2.3 本章小结第34-35页
第3章 数字集成电路故障注入平台的需求分析第35-41页
    3.1 故障注入原理及故障注入工具设计目标第35-36页
    3.2 故障注入平台设计的需求分析第36-40页
        3.2.1 平台整体架构分析第37-38页
        3.2.2 平台软件部分需求分析第38-39页
        3.2.3 平台硬件部分需求分析第39-40页
    3.3 本章小结第40-41页
第4章 故障注入平台硬件设计第41-51页
    4.1 引言第41页
    4.2 Genesys Virtex-5 开发板简介第41-42页
    4.3 故障时钟设计第42-45页
    4.4 串口通讯设计第45-49页
        4.4.1 故障信息序列生成协议第45页
        4.4.2 RS232 串口设计第45-49页
    4.5 故障管理器设计第49-50页
    4.6 本章小结第50-51页
第5章 故障注入平台软件设计及使用介绍第51-59页
    5.1 引言第51页
    5.2 故障注入器软件设计第51-53页
    5.3 故障参数选择器软件设计第53-55页
        5.3.1 故障地址选择第54页
        5.3.2 故障模型参数选择第54-55页
    5.4 用户界面设计及平台使用流程第55-58页
    5.5 本章小结第58-59页
第6章 数字集成电路故障注入平台实验验证第59-69页
    6.1 引言第59页
    6.2 仿真验证及分析第59-62页
    6.3 板级验证及分析第62-67页
    6.4 本章小结第67-69页
结论第69-70页
参考文献第70-77页
攻读学位期间发表的学术论文第77-79页
致谢第79-80页

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