首页--工业技术论文--自动化技术、计算机技术论文--计算技术、计算机技术论文--电子数字计算机(不连续作用电子计算机)论文--运算器和控制器(CPU)论文

高性能M-DSP仿真/调试部件的设计与实现

摘要第11-12页
ABSTRACT第12-13页
第一章 绪论第14-21页
    1.1 课题的研究背景和意义第14-16页
        1.1.1 DSP芯片的主要特点第14-15页
        1.1.2 高性能DSP的发展趋势第15-16页
        1.1.3 DSP技术的发展意义第16页
    1.2 仿真/调试技术的研究第16-18页
        1.2.1 仿真/调试技术的概述第16-17页
        1.2.2 片上调试技术的研究第17-18页
        1.2.3 M-DSP的仿真/调试机制第18页
    1.3 课题的研究内容第18-19页
    1.4 课题的组织结构第19-21页
第二章 M-DSP的体系结构第21-31页
    2.1 M-DSP的体系结构概要第21-23页
        2.1.1 M-DSP的总体结构第21-22页
        2.1.2 M-DSP的内核结构第22-23页
    2.2 M-DSP的指令集第23-25页
        2.2.1 M-DSP的指令格式第23-24页
        2.2.2 指令包及执行包的结构第24-25页
    2.3 M-DSP的指令流水线设计第25-29页
        2.3.1 M-DSP的基本指令流水线第25-27页
        2.3.2 流水线的阻塞与清空第27-28页
        2.3.3 M-DSP的分支延迟槽第28-29页
    2.4 M-DSP的仿真/调试结构第29-30页
        2.4.1 仿真/调试的基本准则第29页
        2.4.2 基于JTAG的仿真/调试方案第29页
        2.4.3 基于PCIE的仿真/调试方案第29-30页
    2.5 本章小结第30-31页
第三章 基于JTAG的仿真/调试部件的设计与实现第31-53页
    3.1 仿真/调试部件的概述第31-32页
    3.2 仿真/调试部件的介绍第32-37页
        3.2.1 ETAP处理模块第33-34页
        3.2.2 TAP控制器第34-36页
        3.2.3 指令寄存器JIR第36-37页
    3.3 仿真/调试部件的功能第37-44页
        3.3.1 流水线控制第37-39页
        3.3.2 资源访问第39-43页
        3.3.3 事件统计第43-44页
    3.4 功能验证第44-51页
        3.4.1 验证方法第45页
        3.4.2 功能验证计划第45-47页
        3.4.3 验证结果分析第47-51页
        3.4.4 覆盖率分析第51页
    3.5 逻辑综合第51-52页
    3.6 本章小结第52-53页
第四章 仿真调试中软件断点的实现第53-64页
    4.1 软件断点实现的基本原理第53页
    4.2 软件断点的处理第53-56页
        4.2.2 软件断点的设置第53-55页
        4.2.3 软件断点的取消第55页
        4.2.4 软件断点的恢复第55-56页
        4.2.5 相关存储系统的一致性维护第56页
    4.3 指令派发部件对软件断点的支持第56-59页
        4.3.1 DP对于ET读操作的支持第56页
        4.3.2 DP对于ET软件断点的支持第56-58页
        4.3.3 DP对软件断点的检测第58页
        4.3.4 DP对软件断点的恢复第58-59页
    4.4 流水线中软件断点的生成第59-60页
    4.5 功能验证第60-63页
        4.5.1 软件断点的功能验证点第60-61页
        4.5.2 软件断点的验证结果和分析第61-63页
    4.6 本章小结第63-64页
第五章 基于PCIE的仿真/调试部件的设计第64-79页
    5.1 M-DSP仿真调试的需求分析第64-65页
    5.2 PCIE与ET的通信协议第65-66页
    5.3 36位数据访问机制第66-67页
    5.4 DNACBuf状态机第67-69页
        5.4.1 DNACBuf状态机的状态分析第68-69页
        5.4.2 PCIE模式下ET的仿真控制第69页
    5.5 与JTAG的逻辑复用第69-75页
        5.5.1 存储域模块MD第69-71页
        5.5.2 指令译码模块IDEC第71-73页
        5.5.3 仿真控制寄存器ECR第73-75页
    5.6 验证与测试第75-78页
        5.6.1 功能验证计划第75-76页
        5.6.2 验证结果分析第76-78页
        5.6.3 覆盖率分析第78页
    5.7 本章小结第78-79页
第六章 M-DSP仿真调试的系统级验证环境第79-93页
    6.1 传统的FPGA原型验证环境第79-80页
    6.2 基于PLI接口的验证系统第80-83页
        6.2.1 Verilog PLI接口简述第80-81页
        6.2.2 基于PLI验证系统的优势第81-82页
        6.2.3 基于PLI的验证系统的结构第82-83页
    6.3 基于PLI接口技术的验证模型第83-85页
        6.3.1 共享内存区第83-84页
        6.3.2 同步读写指针第84-85页
        6.3.3 M-DSP仿真调试的系统级验证环境第85页
    6.4 多核加速模型第85-87页
        6.4.1 设计原理第86页
        6.4.2 队列类型复用第86页
        6.4.3 多核加速效率分析第86-87页
    6.5 M-DSP仿真调试的系统级验证实践第87-92页
        6.5.1 调试流水线第87-88页
        6.5.2 可访问资源的读写第88-89页
        6.5.3 系统性能统计第89-91页
        6.5.4 软件断点和硬件断点第91-92页
    6.6 本章小结第92-93页
第七章 论文总结及展望第93-95页
    7.1 论文总结第93-94页
    7.2 工作展望第94-95页
致谢第95-97页
参考文献第97-101页
作者在研究生阶段取得的学术成果第101页

论文共101页,点击 下载论文
上一篇:高性能DSP的IP核设计与功能验证
下一篇:高性能X处理器浮点部件的实现和优化