摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6页 |
符号对照表 | 第11-12页 |
缩略语对照表 | 第12-16页 |
第一章 绪论 | 第16-20页 |
1.1 论文的研究背景和意义 | 第16页 |
1.2 高速模拟采集系统的研究现状 | 第16-18页 |
1.3 论文研究的内容 | 第18-20页 |
第二章 高速模拟采集系统简介 | 第20-30页 |
2.1 采样定理 | 第20-21页 |
2.1.1 Nyquist采样定理 | 第20页 |
2.1.2 带通信号采样定理 | 第20-21页 |
2.2 高速数据采集系统的基本原理 | 第21-29页 |
2.2.1 高速数据采集系统结构和组成 | 第21-22页 |
2.2.2 模数转换原理 | 第22页 |
2.2.3 高速ADC介绍 | 第22-27页 |
2.2.4 ADC主要参数及误差分析 | 第27-29页 |
2.3 本章小结 | 第29-30页 |
第三章 高速模拟采集的电路设计 | 第30-42页 |
3.1 高速模拟采集的框架和性能指标 | 第30-31页 |
3.1.1 高速模拟采集系统的框架组成 | 第30页 |
3.1.2 技术性能指标 | 第30-31页 |
3.2 模拟采集电路的设计 | 第31-35页 |
3.2.1 模拟采集板的基本组成 | 第31-32页 |
3.2.2 模拟采集电路的设计 | 第32-35页 |
3.2.3 FPGA芯片的选型 | 第35页 |
3.3 时钟电路的设计 | 第35-37页 |
3.3.1 时钟芯片的选型 | 第36页 |
3.3.2 时钟电路的设计 | 第36-37页 |
3.4 电源的设计 | 第37-39页 |
3.4.1 模拟电路电源芯片 | 第37-38页 |
3.4.2 电源电路的设计 | 第38-39页 |
3.5 2路采集回放板的设计 | 第39-41页 |
3.6 本章小结 | 第41-42页 |
第四章 固态存储控制技术的设计 | 第42-56页 |
4.1 固态存储技术的性能指标 | 第42-43页 |
4.1.1 主要性能指标 | 第42页 |
4.1.2 关键指标分析 | 第42-43页 |
4.2 NAND Flash控制技术 | 第43-52页 |
4.2.1 NAND FLASH控制技术简介 | 第43-45页 |
4.2.2 NAND技术与NOR技术的比较 | 第45页 |
4.2.3 NAND Flash控制逻辑的基本原理 | 第45-49页 |
4.2.4 坏块管理技术的基本原理与实现 | 第49-52页 |
4.3 固态存储的电路设计 | 第52-55页 |
4.3.1 固态存储电路设计方案 | 第52-53页 |
4.3.2 硬件电路的设计与实现 | 第53-55页 |
4.3.3 测试与分析 | 第55页 |
4.4 本章小结 | 第55-56页 |
第五章 高速模拟采集系统的软件设计 | 第56-66页 |
5.1 软件总体设计 | 第56页 |
5.2 存储控制软件设计 | 第56-62页 |
5.2.1 工作模式设计和状态迁移 | 第56-58页 |
5.2.2 外部接.设计 | 第58页 |
5.2.3 程序设计 | 第58-61页 |
5.2.4 流程设计 | 第61-62页 |
5.3 本控软件设计 | 第62-65页 |
5.3.1 工作模式设计和状态迁移 | 第62页 |
5.3.2 外部接.设计 | 第62-64页 |
5.3.3 程序设计 | 第64页 |
5.3.4 流程设计 | 第64-65页 |
5.4 本章小结 | 第65-66页 |
第六章 高速模拟采集系统的调试 | 第66-72页 |
6.1 高速模拟采集系统 | 第66-68页 |
6.1.1 整机系统的结构设计 | 第66-67页 |
6.1.2 整机的热设计 | 第67-68页 |
6.1.3 整机的外形展示 | 第68页 |
6.2 高速模拟采集系统的调试 | 第68-70页 |
6.3 本章小结 | 第70-72页 |
总结与展望 | 第72-74页 |
参考文献 | 第74-76页 |
致谢 | 第76-78页 |
作者简介 | 第78-79页 |