| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 1 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 课题研究背景 | 第8-9页 |
| 1.2 研究的意义 | 第9-10页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第10-12页 |
| 1.4 研究的主要内容 | 第12页 |
| 1.5 论文结构安排 | 第12-14页 |
| 2 小型TFT-LCD液晶屏点缺陷分析 | 第14-24页 |
| 2.1 TFT-LCD面板结构 | 第14-17页 |
| 2.2 TFT-LCD工作原理 | 第17-19页 |
| 2.3 TFT-LCD点缺陷分析 | 第19-21页 |
| 2.3.1 点缺陷 | 第20页 |
| 2.3.2 点缺陷成因 | 第20-21页 |
| 2.4 传统的检测方法 | 第21-23页 |
| 2.5 本章小结 | 第23-24页 |
| 3 TFT-LCD点缺陷检测算法 | 第24-36页 |
| 3.1 图像采集 | 第24-27页 |
| 3.1.1 图像校正 | 第25-26页 |
| 3.1.2 自动聚焦 | 第26-27页 |
| 3.2 图像预处理 | 第27-31页 |
| 3.2.1 图像归一化 | 第27-29页 |
| 3.2.2 边缘检测 | 第29-31页 |
| 3.3 图像配准 | 第31-34页 |
| 3.3.1 传统的配准方法 | 第31-32页 |
| 3.3.2 改进后的配准算法 | 第32-34页 |
| 3.4 差影法缺陷检测 | 第34-35页 |
| 3.5 本章小结 | 第35-36页 |
| 4 检测系统的软件设计 | 第36-44页 |
| 4.1 系统软件设计 | 第36-37页 |
| 4.2 软件流程设计 | 第37-40页 |
| 4.2.1 整体的算法流程 | 第37-38页 |
| 4.2.2 模板分析算法流程 | 第38-39页 |
| 4.2.3 待测液晶屏坏点分析算法流程 | 第39-40页 |
| 4.3 软件架构 | 第40-42页 |
| 4.4 本章小结 | 第42-44页 |
| 5 硬件设计和实验结果分析 | 第44-50页 |
| 5.1 硬件设计 | 第44-46页 |
| 5.2 实验结果分析 | 第46-48页 |
| 5.2.1 基于MATLAB的模拟仿真实验结果与分析 | 第46-47页 |
| 5.2.2 基于VC++的实验结果与分析 | 第47-48页 |
| 5.3 本章小结 | 第48-50页 |
| 6 总结与展望 | 第50-52页 |
| 6.1 总结 | 第50页 |
| 6.2 展望 | 第50-52页 |
| 参考文献 | 第52-56页 |
| 致谢 | 第56页 |