干涉仪测向系统研究
摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
符号对照表 | 第11-12页 |
缩略语对照表 | 第12-15页 |
第一章 绪论 | 第15-19页 |
1.1 研究背景 | 第15-16页 |
1.2 干涉仪测向技术发展现状 | 第16-17页 |
1.3 本文的主要工作 | 第17-19页 |
第二章 干涉仪测向原理 | 第19-29页 |
2.1 一维干涉仪测向 | 第19-23页 |
2.1.1 一维单基线干涉仪测向 | 第19-20页 |
2.1.2 一维线阵干涉仪测向 | 第20-22页 |
2.1.3 一维线阵干涉仪测向仿真 | 第22-23页 |
2.1.4 一维干涉仪测向的不足 | 第23页 |
2.2 二维干涉仪测向 | 第23-26页 |
2.2.1 二维干涉仪测向 | 第23-25页 |
2.2.2 二维线阵干涉仪测向 | 第25-26页 |
2.3 信噪比对测向影响仿真 | 第26-27页 |
2.4 小结 | 第27-29页 |
第三章 干涉仪测向关键技术 | 第29-59页 |
3.1 鉴相技术 | 第29-37页 |
3.1.1 模拟鉴相 | 第29-32页 |
3.1.2 数字鉴相 | 第32-35页 |
3.1.3 鉴相性能分析 | 第35-36页 |
3.1.4 鉴相对比分析 | 第36-37页 |
3.2 解模糊算法 | 第37-49页 |
3.2.1 长短基线法 | 第37-38页 |
3.2.2 归一相位法 | 第38-40页 |
3.2.3 统计相位方差法 | 第40-43页 |
3.2.4 参差基线法 | 第43-44页 |
3.2.5 虚拟基线法 | 第44-45页 |
3.2.6 无模糊长基线法 | 第45-46页 |
3.2.7 立体基线法 | 第46-47页 |
3.2.8 解模糊性能分析 | 第47-48页 |
3.2.9 解模糊对比分析 | 第48-49页 |
3.3 通道不一致校正 | 第49-54页 |
3.3.1 不一致导致因素 | 第50-51页 |
3.3.2 不一致校正原理 | 第51-53页 |
3.3.3 动态通道一致校正 | 第53-54页 |
3.4 接收数据处理方式 | 第54-56页 |
3.4.1 最长基线相关器 | 第54-55页 |
3.4.2 最小二乘算法 | 第55-56页 |
3.5 小结 | 第56-59页 |
第四章 两种基于长短基线的测向方法 | 第59-67页 |
4.1 频域分析法 | 第59-62页 |
4.1.1 算法原理 | 第59-60页 |
4.1.2 仿真分析 | 第60-61页 |
4.1.3 仿真对比 | 第61-62页 |
4.1.4 结论 | 第62页 |
4.2 信号点长短基线法 | 第62-65页 |
4.2.1 算法原理 | 第62-64页 |
4.2.2 仿真分析 | 第64页 |
4.2.3 仿真对比 | 第64-65页 |
4.2.4 结论 | 第65页 |
4.3 小结 | 第65-67页 |
第五章 总结与展望 | 第67-69页 |
参考文献 | 第69-71页 |
致谢 | 第71-73页 |
作者简介 | 第73-74页 |
1.基本情况 | 第73页 |
2.教育背景 | 第73页 |
3.攻读硕士学位期间的研究成果 | 第73-74页 |
3.1 发表学术论文 | 第73页 |
3.2 参与科研项目及获奖 | 第73-74页 |