低冗余存储器相邻双错误纠正码设计
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-20页 |
| ·课题背景及研究的目的和意义 | 第8-9页 |
| ·空间辐射环境 | 第9-10页 |
| ·空间辐射对存储器的影响 | 第10-14页 |
| ·国内外集成电路抗辐射加固研究情况 | 第14页 |
| ·存储器加固的方法 | 第14-18页 |
| ·ECC编码技术 | 第14-15页 |
| ·使用特殊工艺 | 第15页 |
| ·物理冗余 | 第15-16页 |
| ·版图改进技术 | 第16-17页 |
| ·基于电流探测电路加固存储器方法 | 第17-18页 |
| ·本文结构安排 | 第18-20页 |
| 第2章 ECC编码加固方法介绍 | 第20-34页 |
| ·线性分组码代数理论 | 第21-28页 |
| ·有限域 | 第21页 |
| ·矢量空间 | 第21-23页 |
| ·线性分组码 | 第23-28页 |
| ·纠错编码介绍 | 第28-33页 |
| ·奇偶校验码 | 第28-29页 |
| ·汉明码 | 第29-30页 |
| ·SEC-DED编码 | 第30-31页 |
| ·抗多位翻转编码 | 第31-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第3章 抗相邻双错误编码算法 | 第34-50页 |
| ·校验矩阵分析 | 第34-38页 |
| ·线性分组码校验矩阵结构 | 第34-35页 |
| ·SEC-DED-DAEC编码校验矩阵分析 | 第35-38页 |
| ·校验矩阵搜索空间分析 | 第38-39页 |
| ·搜索校验矩阵算法 | 第39-49页 |
| ·贪婪算法 | 第40-41页 |
| ·搜索空间的优化 | 第41-42页 |
| ·算法实现 | 第42-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第4章 SEC-DED-DAEC编码电路设计 | 第50-58页 |
| ·编码电路 | 第50-51页 |
| ·译码电路 | 第51-54页 |
| ·译码原理 | 第51-53页 |
| ·译码电路的实现 | 第53-54页 |
| ·功能验证 | 第54-56页 |
| ·系统故障注入 | 第54-55页 |
| ·功能验证模型 | 第55页 |
| ·仿真结果 | 第55-56页 |
| ·译码电路综合及性能评估 | 第56-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 结论 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-64页 |
| 致谢 | 第64页 |
