| 致谢 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 目录 | 第7-9页 |
| 1 引言 | 第9-13页 |
| ·研究背景和意义 | 第9-10页 |
| ·热红外探测的应用 | 第10页 |
| ·国内外研究现状 | 第10-12页 |
| ·论文的研究内容与结构安排 | 第12-13页 |
| 2 制冷型热红外成像系统介绍 | 第13-30页 |
| ·系统整体概述 | 第13-14页 |
| ·热红外探测器组件 MARS VLW RM4 介绍 | 第14-17页 |
| ·探测器整体性能指标 | 第14-15页 |
| ·制冷机测控温方式 | 第15-16页 |
| ·探测器读出方式 | 第16-17页 |
| ·高帧频低噪声信息获取系统 | 第17-22页 |
| ·电源模块 | 第17-18页 |
| ·探测器驱动 | 第18-19页 |
| ·信号处理及 A/D 转换 | 第19-20页 |
| ·FPGA 逻辑时序设计 | 第20-21页 |
| ·图像传输与上位机软件 | 第21-22页 |
| ·成像系统特性及性能 | 第22-30页 |
| ·系统信号成分分析 | 第22-25页 |
| ·系统噪声特性分析 | 第25-26页 |
| ·系统实际噪声及 NETD 性能测试 | 第26-30页 |
| 3 红外焦平面校正方法研究 | 第30-39页 |
| ·热红外图像校正概述 | 第30页 |
| ·非均匀性校正及盲元产生机理 | 第30-32页 |
| ·非均匀性产生机理 | 第30-32页 |
| ·盲元产生机理 | 第32页 |
| ·非均匀性校正常见算法 | 第32-39页 |
| ·定标法非均匀性校正原理 | 第33-35页 |
| ·基于场景的自适应校正算法 | 第35-38页 |
| ·非均匀性算法选择 | 第38-39页 |
| 4 热红外成像系统校正技术实现 | 第39-56页 |
| ·成像系统测温动态范围标定 | 第39-43页 |
| ·测温动态范围标定目的 | 第40页 |
| ·积分时间对成像系统性能影响 | 第40-41页 |
| ·动态范围标定步骤 | 第41-43页 |
| ·热红外成像系统各像元响应特性分析 | 第43-44页 |
| ·热红外成像系统校正算法 | 第44-47页 |
| ·热红外图像非均匀性校正 | 第44-45页 |
| ·热红外图像盲元补偿 | 第45-47页 |
| ·图像校正效果 | 第47-52页 |
| ·热红外图像校正流程 | 第47-49页 |
| ·非均匀性校正及盲元补偿结果 | 第49-52页 |
| ·基于 FPGA 的实时校正实现 | 第52-56页 |
| ·校正参数存取方案 | 第52-53页 |
| ·图像校正流程 | 第53-54页 |
| ·实时非均匀性校正方法 | 第54页 |
| ·实时盲元补偿方法 | 第54-56页 |
| 5 热红外成像系统定量化及温度反演 | 第56-61页 |
| ·成像系统目标等效黑体温度反演 | 第56-59页 |
| ·成像系统定量化 | 第56-57页 |
| ·基于理想定标模型的目标等效黑体温度反演 | 第57-58页 |
| ·数据定量化精度分析 | 第58-59页 |
| ·热红外成像系统定量化方法研究 | 第59-61页 |
| ·影响热红外成像系统响应的因素 | 第59页 |
| ·热红外成像系统量化处理方法 | 第59-61页 |
| 6 总结与展望 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第67页 |