热障涂层高温性能评价的复阻抗谱测量技术与应用
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-20页 |
| ·引言 | 第9-10页 |
| ·热障涂层概述 | 第10-14页 |
| ·热障涂层的概念与组成 | 第10-11页 |
| ·热障涂层的制备工艺 | 第11-12页 |
| ·新型热障涂层材料的发展 | 第12-13页 |
| ·热障涂层的失效原理 | 第13-14页 |
| ·热障涂层的高温氧化与 CMAS 腐蚀及其检测 | 第14-16页 |
| ·热障涂层的高温氧化与 CMAS 腐蚀 | 第14-15页 |
| ·高温氧化与 CMAS 腐蚀对热障涂层性能的影响 | 第15页 |
| ·热障涂层高温氧化与 CMAS 腐蚀的检测 | 第15-16页 |
| ·复阻抗谱的检测原理及其发展状况 | 第16-18页 |
| ·复阻抗谱原理 | 第16-17页 |
| ·国内外复阻抗谱技术的发展状况 | 第17-18页 |
| ·本文选题依据和主要内容 | 第18-20页 |
| 第2章 热障涂层复阻抗谱测量参数的优化选择 | 第20-35页 |
| ·热障涂层复阻抗谱测量方法 | 第20-21页 |
| ·测量样品的制备 | 第20-21页 |
| ·测量方法 | 第21页 |
| ·热障涂层复阻抗谱测量参数的选择 | 第21-33页 |
| ·测量电压的选择 | 第21-24页 |
| ·测量温度的选择 | 第24-27页 |
| ·电极尺寸的选择 | 第27-30页 |
| ·实际涡轮叶片的复阻抗谱测量 | 第30-33页 |
| ·本章小结 | 第33-35页 |
| 第3章 热障涂层界面氧化的复阻抗谱检测 | 第35-43页 |
| ·热障涂层的界面氧化与复阻抗谱检测 | 第36-37页 |
| ·热障涂层的制备 | 第36页 |
| ·高温氧化与复阻抗谱检测 | 第36-37页 |
| ·复阻抗谱检测结果与分析 | 第37-42页 |
| ·热障涂层的复阻抗谱分析 | 第37-39页 |
| ·热障涂层的氧化机理分析 | 第39-40页 |
| ·热障涂层的等效电路 | 第40-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 热障涂层 CMAS 腐蚀的复阻抗谱检测 | 第43-54页 |
| ·实验过程 | 第43-45页 |
| ·热障涂层与 CMAS 的制备 | 第43-44页 |
| ·CMAS 高温腐蚀及复阻抗谱检测 | 第44-45页 |
| ·CMAS 腐蚀热障涂层微观结构观察 | 第45页 |
| ·实验结果与分析 | 第45-53页 |
| ·独立陶瓷层与 CMAS 层的阻抗性能 | 第45-47页 |
| ·无 CMAS 腐蚀情况下样品的高温烧结 | 第47-49页 |
| ·CMAS 腐蚀对热障涂层阻抗性能的影响 | 第49-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第5章 总结与展望 | 第54-56页 |
| ·工作总结 | 第54-55页 |
| ·工作展望 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 附录 A：攻读硕士学位期间发表的专利及学术论文 | 第62页 |
