基于动态方法的嵌入式软件缺陷检测技术研究与实现
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-18页 |
| ·课题研究背景与意义 | 第11-12页 |
| ·研究背景 | 第11-12页 |
| ·研究意义 | 第12页 |
| ·相关工作 | 第12-16页 |
| ·软件缺陷类型 | 第12-14页 |
| ·软件缺陷检测技术 | 第14-16页 |
| ·研究内容 | 第16-17页 |
| ·论文结构 | 第17-18页 |
| 第2章 动态插桩框架介绍 | 第18-35页 |
| ·几种主流框架分析 | 第18-24页 |
| ·Pin 框架介绍 | 第18-20页 |
| ·DynamoRIO 框架介绍 | 第20-21页 |
| ·DynInst 框架介绍 | 第21-22页 |
| ·Valgrind 框架介绍 | 第22-23页 |
| ·几种主流框架比较分析 | 第23-24页 |
| ·Valgrind 插桩平台 | 第24-32页 |
| ·工作流程 | 第25-27页 |
| ·内核及接口 | 第27-32页 |
| ·内核 | 第28-32页 |
| ·内核/工具接口 | 第32页 |
| ·工具编写方法 | 第32-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 第3章 缓冲区溢出缺陷检测方法 | 第35-47页 |
| ·概述 | 第35-36页 |
| ·缓冲区溢出 | 第35页 |
| ·举例说明 | 第35-36页 |
| ·缓冲区溢出检测工具设计 | 第36-42页 |
| ·整体设计 | 第36-37页 |
| ·库函数处理 | 第37-39页 |
| ·影子内存 | 第39页 |
| ·动态插桩 | 第39-41页 |
| ·检测机制 | 第41-42页 |
| ·缓冲区溢出检测工具实现 | 第42-45页 |
| ·库函数处理实现 | 第42-43页 |
| ·影子内存实现 | 第43-44页 |
| ·动态插桩实现 | 第44页 |
| ·检测机制实现 | 第44-45页 |
| ·实验分析 | 第45-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第4章 整型符号转换缺陷检测方法 | 第47-61页 |
| ·概述 | 第47-49页 |
| ·整型符号转换缺陷 | 第47页 |
| ·举例说明 | 第47-48页 |
| ·内存相关库函数 | 第48-49页 |
| ·相关工作 | 第49-50页 |
| ·静态检测 | 第49页 |
| ·动态检测 | 第49-50页 |
| ·运行时检测 | 第50页 |
| ·总结 | 第50页 |
| ·整型符号转换缺陷检测工具设计 | 第50-56页 |
| ·整体设计 | 第50-52页 |
| ·信息收集 | 第52-55页 |
| ·检测机制 | 第55-56页 |
| ·缺陷定位 | 第56页 |
| ·整型符号转换缺陷检测工具实现 | 第56-59页 |
| ·信息收集实现 | 第56-58页 |
| ·检测机制实现 | 第58-59页 |
| ·缺陷定位实现 | 第59页 |
| ·实验分析 | 第59-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 第5章 嵌入式软件缺陷动态检测系统 | 第61-71页 |
| ·系统总体设计 | 第61-63页 |
| ·最初设计 | 第61-62页 |
| ·总体架构 | 第62-63页 |
| ·系统的实现 | 第63-65页 |
| ·系统测试 | 第65-70页 |
| ·测试平台 | 第65页 |
| ·实验设计 | 第65-66页 |
| ·实验结果分析 | 第66-70页 |
| ·本章小结 | 第70-71页 |
| 第6章 总结 | 第71-73页 |
| ·工作总结 | 第71-72页 |
| ·课题展望 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-77页 |
| 附录 | 第77-78页 |
| 详细摘要 | 第78-81页 |
