高压开关动作特性测试系统的研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-11页 |
| ·高压开关的作用 | 第8页 |
| ·课题研究背景与意义 | 第8-9页 |
| ·高压开关动作特性测试系统的研究现状 | 第9-10页 |
| ·本课题所要做的工作 | 第10-11页 |
| 第二章 高压开关动作特性测试系统的设计原理与方案 | 第11-19页 |
| ·高压开关的基本概念和动作特性 | 第11-12页 |
| ·高压开关的结构特征 | 第11-12页 |
| ·高压开关分、合闸动作过程 | 第12页 |
| ·高压开关的动作特性参数介绍 | 第12-14页 |
| ·测试系统的功能要求 | 第14-15页 |
| ·高压开关动作特性测试系统的基本要求 | 第14页 |
| ·高压开关动作特性测试系统的工作原理 | 第14页 |
| ·高压开关动作特性测试系统的功能要求 | 第14-15页 |
| ·高压开关参数的采集方法和原理 | 第15-17页 |
| ·状态开关量参数的采集测量 | 第15页 |
| ·分、合闸时间及其他时间相关参数的测量 | 第15页 |
| ·行程参数的测量 | 第15-17页 |
| ·分、合闸线圈电流信号的测量 | 第17页 |
| ·分、合闸速度的测量方案 | 第17页 |
| ·高压开关整体测试系统的结构设计方案 | 第17-18页 |
| ·本章小结 | 第18-19页 |
| 第三章 测试系统硬件电路设计 | 第19-38页 |
| ·测试系统硬件电路总体结构 | 第19-20页 |
| ·微处理器的选择 | 第20页 |
| ·S3C2410 最小系统设计 | 第20-24页 |
| ·电源电路设计 | 第21页 |
| ·晶振电路设计 | 第21-22页 |
| ·系统复位电路 | 第22-23页 |
| ·JTAG调试接口电路 | 第23-24页 |
| ·存储模块的电路设计 | 第24-26页 |
| ·NAND Flash存储模块的电路设计 | 第24-25页 |
| ·SDRAM存储模块的设计 | 第25-26页 |
| ·USB接口模块电路设计 | 第26-27页 |
| ·串口电路设计 | 第27-28页 |
| ·液晶模块的硬件设计 | 第28-30页 |
| ·信号采样模块电路设计 | 第30-35页 |
| ·行程信号采样电路设计 | 第30-32页 |
| ·分合闸线圈电流信号采样电路设计 | 第32-33页 |
| ·开关量信号采样电路设计 | 第33-34页 |
| ·分合闸线圈带电判别电路设计 | 第34-35页 |
| ·分合闸控制电路模块设计 | 第35-36页 |
| ·分合闸继电器控制电路设计 | 第35-36页 |
| ·储能信号输出电路设计 | 第36页 |
| ·干扰及干扰的抑制技术 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 高压开关动作特性测试系统的软件设计 | 第38-57页 |
| ·程序语言的选择 | 第38页 |
| ·系统软件设计的整体结构 | 第38-39页 |
| ·AD转换驱动程序设计 | 第39-40页 |
| ·液晶显示程序设计 | 第40-42页 |
| ·USB驱动程序设计 | 第42-45页 |
| ·开关量采集驱动设计 | 第45页 |
| ·串口驱动程序设计 | 第45-47页 |
| ·嵌入式实时操作系统Linux | 第47-53页 |
| ·Linux简介 | 第47页 |
| ·交叉编译环境的建立 | 第47页 |
| ·嵌入式系统的启动程序 | 第47-48页 |
| ·嵌入式Linux内核移植 | 第48-52页 |
| ·制作文件系统 | 第52-53页 |
| ·系统应用程序的开发 | 第53-56页 |
| ·软件抗干扰技术 | 第56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 第五章 测试系统的调试和实验结果分析 | 第57-63页 |
| ·硬件电路调试 | 第57页 |
| ·软件程序的调试 | 第57-58页 |
| ·整体调试 | 第58页 |
| ·测试结果分析 | 第58-63页 |
| 第六章 结论 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
| 个人简历 在读期间发表的学术论文 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67页 |
