| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-8页 |
| 致谢 | 第8-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-20页 |
| ·集成电路技术的发展 | 第14-15页 |
| ·模数转换器的发展 | 第15-18页 |
| ·数字辅助模拟技术 | 第18-19页 |
| ·本文的组织结构 | 第19-20页 |
| 第二章 多通道时间交叉 ADC 及其校准技术 | 第20-36页 |
| ·ADC 的基本特征 | 第20-21页 |
| ·采样频率 | 第20-21页 |
| ·分辨率 | 第21页 |
| ·ADC 的性能指标 | 第21-25页 |
| ·静态性能指标 | 第21-23页 |
| ·动态性能指标 | 第23-25页 |
| ·多通道时间交叉模数转换器 | 第25-32页 |
| ·多通道时间交叉模数转换器的原理 | 第25-27页 |
| ·多通道 TIADC 的失配效应 | 第27-30页 |
| ·仿真验证 | 第30-32页 |
| ·多通道 TIADC 失配误差数字校准技术概述 | 第32-35页 |
| ·前台校准技术 | 第32-33页 |
| ·后台校准技术 | 第33-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 第三章 劈分多通道 TIADC 结构及其校准算法 | 第36-53页 |
| ·劈分多通道 TIADC | 第36-39页 |
| ·劈分通道互校准原理 | 第36-37页 |
| ·多通道 TIADC 劈分校准结构 | 第37-39页 |
| ·多通道 TIADC 的误差模型 | 第39-40页 |
| ·基于劈分多通道 TIADC 的校准算法 | 第40-47页 |
| ·一阶时间误差校准技术 | 第40-43页 |
| ·高阶时间误差校准技术 | 第43-44页 |
| ·数值仿真 | 第44-47页 |
| ·一阶级联校准技术 | 第47-52页 |
| ·一阶级联校准技术结构 | 第48-49页 |
| ·数值仿真 | 第49-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第四章 校准算法的 FPGA 验证和 ASIC 实现 | 第53-65页 |
| ·校准算法的 FPGA 验证 | 第53-58页 |
| ·一阶校准算法的 FPGA 实现 | 第53-56页 |
| ·一阶级联校准算法的 FPGA 实现 | 第56-57页 |
| ·RTL 仿真结构 | 第57-58页 |
| ·校准算法的 ASIC 实现 | 第58-64页 |
| ·综合工具 | 第58-61页 |
| ·一阶级联校准算法的 ASIC 实现 | 第61-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 第五章 总结与展望 | 第65-67页 |
| ·总结 | 第65页 |
| ·展望 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第70-71页 |