热处理对石墨烯薄膜结构及电阻性能的影响
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-29页 |
| ·引论 | 第11-12页 |
| ·石墨烯 | 第12-15页 |
| ·石墨烯的结构 | 第12-13页 |
| ·石墨烯的特性 | 第13-15页 |
| ·石墨烯薄膜的制备 | 第15-18页 |
| ·微机械分离法 | 第15页 |
| ·外延生长法 | 第15-16页 |
| ·化学气相沉积法 | 第16-17页 |
| ·氧化还原法 | 第17-18页 |
| ·其他方法 | 第18页 |
| ·石墨烯的应用 | 第18-27页 |
| ·电极材料 | 第18-19页 |
| ·生物成像 | 第19-21页 |
| ·纳米载药体系 | 第21-23页 |
| ·光动力疗法/光热疗法的研究 | 第23-25页 |
| ·生物检测 | 第25-27页 |
| ·本课题研究内容和目的 | 第27-29页 |
| ·目前存在的问题和研究趋势 | 第27-28页 |
| ·研究内容 | 第28-29页 |
| 第二章 实验部分 | 第29-41页 |
| ·实验流程图 | 第29页 |
| ·实验所需原料和溶液 | 第29-30页 |
| ·实验仪器设备 | 第30-31页 |
| ·实验制备过程 | 第31-36页 |
| ·氧化石墨的制备 | 第31-33页 |
| ·实验原理 | 第31页 |
| ·氧化石墨的制备过程 | 第31-33页 |
| ·氧化石墨薄膜的制备 | 第33-34页 |
| ·化学法还原制备石墨烯薄膜 | 第34-35页 |
| ·热解还原法制备石墨烯薄膜 | 第35-36页 |
| ·测试表征 | 第36-41页 |
| ·场发射扫描电子显微镜(FESEM) | 第36-37页 |
| ·透射电子显微镜(TEM) | 第37页 |
| ·X-射线衍射分析(XRD) | 第37-38页 |
| ·拉曼光谱分析(RAMAN) | 第38页 |
| ·傅里叶变换红外光谱分析(FT-IR) | 第38-39页 |
| ·薄膜厚度 | 第39页 |
| ·电阻性能分析 | 第39-41页 |
| 第三章 氧化石墨烯的结构表征 | 第41-47页 |
| ·微观形貌分析 | 第41-42页 |
| ·傅里叶变换红外光谱分析 | 第42-43页 |
| ·X-射线衍射分析 | 第43-44页 |
| ·拉曼分析 | 第44-45页 |
| ·透光性及水溶性分析 | 第45-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 石墨烯薄膜的结构表征 | 第47-57页 |
| ·微观形貌分析 | 第47-48页 |
| ·傅里叶变换红外光谱分析 | 第48-51页 |
| ·不同还原剂对氧化石墨烯官能团的影响 | 第48-49页 |
| ·不同热处理温度对氧化石墨烯官能团的影响 | 第49-50页 |
| ·不同热处理时间对氧化石墨烯官能团的影响 | 第50-51页 |
| ·水溶性性分析 | 第51-52页 |
| ·拉曼分析 | 第52-54页 |
| ·本章小结 | 第54-57页 |
| 第五章 石墨烯导电薄膜电阻性能的研究 | 第57-63页 |
| ·还原剂对薄膜电阻特性的研究 | 第57页 |
| ·热处理温度对石墨烯薄膜电阻的影响 | 第57-59页 |
| ·热处理时间对石墨烯薄膜电阻的影响 | 第59-60页 |
| ·薄膜厚度对石墨烯薄膜电阻的影响 | 第60-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 第六章 总论与展望 | 第63-65页 |
| ·结论 | 第63-64页 |
| ·展望 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-75页 |
| 攻读硕士期间发表的论文及研究成果 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76页 |
