时序逻辑转换断言图的研究
摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-10页 |
第一章 绪论 | 第10-21页 |
·引言 | 第10-11页 |
·数字集成电路设计的基本概念 | 第11-13页 |
·数字集成电路设计的基本流程 | 第11-12页 |
·数字集成电路的设计方式 | 第12-13页 |
·设计验证 | 第13-18页 |
·设计验证的基本概念 | 第13-14页 |
·设计验证的分类 | 第14-18页 |
·研究的意义、选题依据 | 第18-19页 |
·主要研究内容和章节安排 | 第19-21页 |
·主要研究内容 | 第19页 |
·章节安排 | 第19-21页 |
第二章 广义符号轨迹赋值简介 | 第21-34页 |
·背景知识 | 第21-25页 |
·三值抽象和四值抽象 | 第21-22页 |
·二叉决策图简介 | 第22-23页 |
·符号轨迹赋值简介 | 第23-25页 |
·小节总结 | 第25页 |
·广义符号轨迹赋值简介与分析 | 第25-33页 |
·GSTE 概述 | 第25-26页 |
·模型 | 第26-27页 |
·规范说明语言与满足性 | 第27-29页 |
·满足性算法 | 第29-32页 |
·小节总结 | 第32-33页 |
·GSTE 和 STE 分析与比较 | 第33页 |
·本章小结 | 第33-34页 |
第三章 时序逻辑及线性时序逻辑转换断言图 | 第34-57页 |
·时序逻辑概述 | 第34-35页 |
·时序逻辑 LTL 和 CTL | 第35-39页 |
·Krikpe 结构 | 第35-36页 |
·线性时序逻辑介绍 | 第36-37页 |
·计算树逻辑介绍 | 第37-39页 |
·小节小结 | 第39页 |
·基于时序逻辑的模型检验简介与分析 | 第39-46页 |
·基于 CTL 的模型检验 | 第39-40页 |
·LTL 模型检验 | 第40-42页 |
·GSTE 与基于时序逻辑的模型检验方法的比较 | 第42-43页 |
·CTL 与 LTL 的比较与分析 | 第43-45页 |
·小节总结 | 第45-46页 |
·LTL 公式转换断言图 | 第46-56页 |
·LTL 转换成 BA | 第46-51页 |
·Büchi 自动机转换成为断言图 | 第51-55页 |
·小节总结 | 第55-56页 |
·本章小结 | 第56-57页 |
第四章 终端断言图与终端可满足性算法 | 第57-71页 |
·问题来源与描述 | 第57-59页 |
·终端断言图与终端可满足性 | 第59-70页 |
·基础定义 | 第59-60页 |
·终端可满足性的性质及终端强满足模型检验 | 第60-65页 |
·终端断言图及满足性的应用 | 第65-70页 |
·小节总结 | 第70页 |
·本章小结 | 第70-71页 |
第五章 结论与展望 | 第71-73页 |
·本文总结 | 第71-72页 |
·主要研究成果和创新点 | 第71页 |
·存在的不足 | 第71-72页 |
·下一步工作的展望和设想 | 第72-73页 |
致谢 | 第73-74页 |
参考文献 | 第74-77页 |
攻硕期间取得的研究成果 | 第77-78页 |