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时序逻辑转换断言图的研究

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-10页
第一章 绪论第10-21页
   ·引言第10-11页
   ·数字集成电路设计的基本概念第11-13页
     ·数字集成电路设计的基本流程第11-12页
     ·数字集成电路的设计方式第12-13页
   ·设计验证第13-18页
     ·设计验证的基本概念第13-14页
     ·设计验证的分类第14-18页
   ·研究的意义、选题依据第18-19页
   ·主要研究内容和章节安排第19-21页
     ·主要研究内容第19页
     ·章节安排第19-21页
第二章 广义符号轨迹赋值简介第21-34页
   ·背景知识第21-25页
     ·三值抽象和四值抽象第21-22页
     ·二叉决策图简介第22-23页
     ·符号轨迹赋值简介第23-25页
     ·小节总结第25页
   ·广义符号轨迹赋值简介与分析第25-33页
     ·GSTE 概述第25-26页
     ·模型第26-27页
     ·规范说明语言与满足性第27-29页
     ·满足性算法第29-32页
     ·小节总结第32-33页
   ·GSTE 和 STE 分析与比较第33页
   ·本章小结第33-34页
第三章 时序逻辑及线性时序逻辑转换断言图第34-57页
   ·时序逻辑概述第34-35页
   ·时序逻辑 LTL 和 CTL第35-39页
     ·Krikpe 结构第35-36页
     ·线性时序逻辑介绍第36-37页
     ·计算树逻辑介绍第37-39页
     ·小节小结第39页
   ·基于时序逻辑的模型检验简介与分析第39-46页
     ·基于 CTL 的模型检验第39-40页
     ·LTL 模型检验第40-42页
     ·GSTE 与基于时序逻辑的模型检验方法的比较第42-43页
     ·CTL 与 LTL 的比较与分析第43-45页
     ·小节总结第45-46页
   ·LTL 公式转换断言图第46-56页
     ·LTL 转换成 BA第46-51页
     ·Büchi 自动机转换成为断言图第51-55页
     ·小节总结第55-56页
   ·本章小结第56-57页
第四章 终端断言图与终端可满足性算法第57-71页
   ·问题来源与描述第57-59页
   ·终端断言图与终端可满足性第59-70页
     ·基础定义第59-60页
     ·终端可满足性的性质及终端强满足模型检验第60-65页
     ·终端断言图及满足性的应用第65-70页
     ·小节总结第70页
   ·本章小结第70-71页
第五章 结论与展望第71-73页
   ·本文总结第71-72页
     ·主要研究成果和创新点第71页
     ·存在的不足第71-72页
   ·下一步工作的展望和设想第72-73页
致谢第73-74页
参考文献第74-77页
攻硕期间取得的研究成果第77-78页

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