摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-9页 |
第一章 绪论 | 第9-13页 |
·课题背景和意义 | 第9页 |
·锂离子电池的工作原理 | 第9-10页 |
·锂离子电池保护电路的必要性和国内外发展现状 | 第10-11页 |
·论文的主要工作内容 | 第11-13页 |
第二章 锂离子电池保护芯片介绍 | 第13-19页 |
·芯片S8204B介绍 | 第13-14页 |
·使用锂离子电池保护芯片的注意事项 | 第14-15页 |
·芯片S8204B的工作状态介绍 | 第15-18页 |
·通常状态 | 第15-16页 |
·过充电状态 | 第16页 |
·过放电状态 | 第16页 |
·休眠状态 | 第16页 |
·放电过电流状态 | 第16-17页 |
·向O V电池充电功能 | 第17页 |
·延迟时间的设置 | 第17-18页 |
·关于CTLC端子以及CTLD端子 | 第18页 |
·有关SEL端子 | 第18页 |
·本章小结 | 第18-19页 |
第三章 BCD工艺和逆向设计流程介绍 | 第19-23页 |
·BCD工艺简介 | 第19页 |
·集成电路逆向设计流程介绍 | 第19-22页 |
·逆向设计原则 | 第20页 |
·逆向设计流程 | 第20-22页 |
·本章小结 | 第22-23页 |
第四章 具体电路设计和仿真 | 第23-42页 |
·锂离子电池保护芯片的设计目标 | 第23-24页 |
·锂离子电池保护电路的原理 | 第24-27页 |
·过充电保护原理 | 第25-26页 |
·过放电保护原理 | 第26页 |
·放电过电流保护原理 | 第26-27页 |
·负载短路保护原理 | 第27页 |
·比较器的设计 | 第27-36页 |
·比较器的介绍 | 第27-29页 |
·过充电比较器的设计 | 第29-34页 |
·过充电比较器的设计 | 第34-36页 |
·基准电压电路的设计 | 第36-38页 |
·延迟电路的设计 | 第38-39页 |
·SEL端子控制电路的设计 | 第39-40页 |
·ESD保护电路的设计 | 第40-41页 |
·本章小结 | 第41-42页 |
第五章 整体电路功能性能仿真验证 | 第42-50页 |
·芯片电流消耗仿真 | 第42-43页 |
·过充/放电检测电压和过充/放电解除电压的测定 | 第43-46页 |
·放电过电流检测电压和负载短路检测电压的测定 | 第46-47页 |
·CTLG、CTLD和SEL端子输入电压“H”和“L”的测定 | 第47-49页 |
·本章小结 | 第49-50页 |
第六章 芯片的版图设计 | 第50-58页 |
·版图的设计思想和设计原则 | 第50-51页 |
·版图绘制时需要注意的问题 | 第51页 |
·具体单元的版图绘制 | 第51-54页 |
·比较器单元的版图绘制 | 第51-53页 |
·数字逻辑单元的版图绘制 | 第53-54页 |
·整体芯片版图绘制 | 第54-57页 |
·本章小结 | 第57-58页 |
第七章 结论 | 第58-59页 |
参考文献 | 第59-61页 |
在学研究成果 | 第61-62页 |
致谢 | 第62页 |