| 第一章 绪论 | 第1-24页 |
| 1．1 SOC测试技术 | 第11-16页 |
| 1．1．1 SOC测试技术产生的背景 | 第11-14页 |
| 1．1．2 1．1．2 SOC测试的的相关概念 | 第14-16页 |
| 1．2 数据压缩在SOC测试中的应用 | 第16-17页 |
| 1．2．1 课题背景 | 第16-17页 |
| 1．2．2 课题目的和意义 | 第17页 |
| 1．3 国内外研究现状 | 第17-24页 |
| 1．3．1 国内外关于测试技术的研究 | 第17-22页 |
| 1．3．2 国内外关于数据压缩的研究 | 第22-24页 |
| 第二章 SOC测试技术概述 | 第24-36页 |
| 2．1 BIST技术简介 | 第24-28页 |
| 2．2 BOST技术简介 | 第28-36页 |
| 第三章 基于数据预处理的交替与连续长度码的数据压缩方法 | 第36-43页 |
| 3．1 测试码的数据预处理过程 | 第36-38页 |
| 3．2 测试码压缩过程 | 第38-39页 |
| 3．3 数据解压过程 | 第39-41页 |
| 3．4 实验结果 | 第41-43页 |
| 第四章 任意向量之间进行折叠跳转的数据压缩方法 | 第43-56页 |
| 4．1 跳转的有关理论背景 | 第43-47页 |
| 4．2 折叠集之间跳转的过程 | 第47-50页 |
| 4．3 解压过程 | 第50-53页 |
| 4．4 实验结果 | 第53-56页 |
| 第五章 总结与展望 | 第56-58页 |
| 5．1 课题研究总结 | 第56-57页 |
| 5．2 今后工作中研究方向 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-62页 |
| 在校期间发表的文论 | 第62页 |
| 作林期间参与的科研项目 | 第62页 |